Halbleiter & Mikroelektronik

Dinge in anderem Licht sehen

Halbleiter & Mikroelektronik

Wie die führenden FT-IR-, Raman- und Röntgenlösungen von Bruker die zerstörungsfreie Qualitätskontrolle von Halbleitern sowie eine innovative Forschungs- und Entwicklungsarbeit ermöglichen.

Aufgrund der ständig zunehmenden Verbreitung elektronischer Kommunikations- und Unterhaltungsgeräte erleben wir eine enorme Zunahme des Einsatzes von elementaren und Verbundhalbleitern. Silizium, das in allen elektronischen Geräten vorkommt, ist das am häufigsten eingesetzte Halbleitermaterial.

Bruker stellt das Fachwissen und die FT-IR-Technologie für eine zuverlässige und zerstörungsfreie Qualitätskontrolle bei Silizium mit Infrarotlicht für Fotovoltaik und Elektronik bereit. Darüber hinaus sind FT-IR- und Raman-Spektrometer von Bruker leistungsfähige Untersuchungswerkzeuge für eine Vielzahl verschiedener Werkstoffe. Die Bruker Röntgen-Verfahren bieten maßgeschneiderte Lösungen für alle Zwecke – von der routinemäßigen Qualitätskontrolle bis zur innovativen Forschung und Entwicklung.