Analysesysteme für Elektronenmikroskope

QUANTAX WDS

Wellenlängendispersive Spektrometrie für REM

Herausragende spektrale Auflösung

Hohe analytische Genauigkeit und Präzision

~ 4
eV
Halbwertsbreite für Si-K
Um mehr als eine Größenordnung bessere Energieauflösung
< 100
ppm
Nachweisgrenze für zahlreiche Elemente
Hohe Genauigkeit und Präzision für Spurenelemente
> 900
cps/nA
Zählrate für C-K mit einem 80 Å - Multilayer
Hohe Empfindlichkeit für energiearme Röntgenstrahlen

Ergänzen Sie Ihr REM mit den Vorteilen einer Elektronenstrahlmikrosonde

  • Das QUANTAX WDS (WDX) für REM basiert auf dem XSense, einem wellenlängendispersiven Röntgenspektrometer, das die beste Auflösung unter allen Parallelstrahl-WDS-Systemen liefert. Der große Raumwinkel führt aufgrund des Parallelstrahldesigns zu einer viel höheren Signalintensität für energiearme Röntgenstrahlen im Vergleich zu einem Rowland-Kreis-basierten WDS-Spektrometer.
  • Die für WDS charakteristisch hohen Signal-Rausch-Verhältnisse werden durch eine einzigartige Sekundäroptik, die Hintergrundartefakte unterdrückt, weiter verbessert.
  • Ausgestattet mit der feinsten Spiegeloptik und bis zu sechs Analysatorkristallen, hat das QUANTAX WDS eine unübertroffene Empfindlichkeit für energiearme Röntgenstrahlen ab 70 eV.
  • Ein ausgeklügeltes, automatisches Fokussiersystem für die Optik und ein einzigartiger, druckgeregelter Proportionalzähler sorgen für präzise und reproduzierbare Ergebnisse.
  • Die flexible Anpassung des Spektrometers am REM ist sowohl über einen WDS- als auch einen EDS-Port möglich.

WDS am REM – eine perfekte Lösung für anspruchsvolle analytische Anwendungen

  • Lösen Sie häufige EDS-Peaküberlagerungen auf, wie z.B. Ta-W-Si, Pb-S oder Mo-S
  • Explorieren Sie die Niederenergie-Röntgenlinienserien (L, M, N) für die Elemente Ihres Interesses
  • Untersuchen Sie Proben mit niedrigen Beschleunigungsspannungen, um eine minimale analytische Eindringtiefe zu gewährleisten
  • Analysieren Sie Leichtelemente von Be bis F über den gesamten Konzentrationsbereich mit höchsten Zählraten
  • Bestimmen Sie Spurenelementkonzentrationen weit unter den Nachweisgrenzen eines EDS
  • Messen Sie auch ohne leitfähige Beschichtung durch volle Funktionalität im Niedervakuum
  • Reduzieren Sie den analytischen Aufwand durch den einzigartigen, druckgeregelten Proportionalzähler für hohe Reproduzierbarkeit 
  • Gewinnen Sie an Präzision für die Quantifizierung durch Gewährleistung der räumlichen Genauigkeit der Spektraldaten
  • Steigern Sie die Effizienz durch die simultane WDS- und EDS-Analyse, die die Vorteile jedes Detektors in die kombinierte Quantifizierung einbezieht

Was ist Ihre analytische Herausforderung?