Détecteurs EIGER2 R
Le détecteur HPC de nouvelle génération pour la plate-forme XRD la plus puissante
Les EIGER2 250K et 500K sont des détecteurs multi-mode (0D/1D/2D) facile à utiliser pour les familles diffractomètre D8 ADVANCE et D8 DISCOVER.
Les détecteurs hybrid Photon Counting (HPC) sont basés sur la2ème génération de la technologie révolutionnaire EIGER éprouvée par dectris. La grande surface 2D avec 75x75μm2 pixels permet une large couverture avec une résolution fine. Les deux seuils d’énergie et une plage dynamique élevée permettent une mesure précise des signaux faibles et forts. L’intégration complète et transparente de l’EIGER2 dans le DIFFRAC de Bruker. L’architecture SUITE, la conception ergonomique de la monture du détecteur et des accessoires dédiés donnent une solution puissante et facile à utiliser.
Les utilisateurs peuvent tirer pleinement parti des caractéristiques impressionnantes du détecteur pour un large éventail de méthodes de mesure allant de la diffraction de la poudre aux applications de recherche de matériaux. Pas un jack typique de tous les métiers, l’EIGER2 est un maître de toutes les applications:
Le nouveau détecteur EIGER2 R 250K avec un capteur carré et plus de 250000 pixels est la taille idéale pour la collecte de données ultra-rapide pour la diffraction de poudre ou les cartes spatiales réciproques, et sa plage dynamique élevée permet des mesures HRXRD et XRR sans absorbeur de couches minces.
L'EIGER2 R 500K avec 500000 pixels offre plus de 1000 canaux pour des expériences rapides dans des environnements non ambiants et une analyse rapide des fonctions de distribution de paires, et la couverture angulaire la plus élevée pour les applications 2D, y compris SAXS, les expériences de texture et de microdiffraction.
Caractéristiques clés
Principaux avantages
Détecteur multimode
L’EIGER2 est parfaitement intégré au DIFFRAC. Architecture SUITE : les modes d’acquisition de données 0D, 1D et 2D sont implémentés de manière cohérente avec des types de mesure à pas, continus et avancés. La meilleure qualité de données est assurée par nos algorithmes brevetés qui fournissent des données de numérisation 2D sans distorsion sans frottis.
L’EIGER2 prend en charge efficacement toutes les stratégies de collecte de données et permet aux utilisateurs d’obtenir les meilleures données de diffraction pour chaque type d’échantillon :
- Mode 0D mode pour les échantillons avec surfaces rugueuses, revêtements polycristallines et films minces épitaxiques
- Mode 1D pour les balayages ultra-rapides sur les poudres, mesurées soit en réflexion (Bragg-Brentano) ou en géométrie de transmission, ainsi que pour la cartographie spatiale réciproque des films minces épitaxiques
- Mode 2D pour les petites quantités d’échantillons, matériaux ayant une orientation privilégiée ou de grandes tailles de cristallite, pour la micro-cartographie et pour l’analyse du stress et de la texture
Design ergonomique inégalé
Que vous ayez besoin d’une grande couverture 2θ pour les instantanés de diffraction rapide de poudre ou d’une large gamme de γ pour les mesures de texture, que vous souhaitiez capturer une grande partie du faisceau diffracted pour SAXS/WAXS ou besoin d’une haute résolution angulaire pour séparer les pics étroitement espacés - avec l’EIGER2, il ne faut que quelques instants pour optimiser la configuration de l’instrument.
La conception ingénieuse du capteur universel Mount Plus permet de modifier sans outil l’orientation du détecteur et la distance de l’échantillon au détecteur pour passer rapidement d’une application à l’autre, sans avoir à faire de compromis sur la qualité des données :
- Conception compacte et légère avec reconnaissance intégrée en temps réel de l’orientation du détecteur et des accessoires montés
- Failsafe, rotation libre d’alignement du détecteur pour optimiser γ et 2θ couverture angulaire en quelques secondes - les types d’analyse disponibles sont automatiquement adaptés à l’orientation du détecteur
- Position de détecteur variable en continu de 100 mm à 500 mm, avec étalonnage automatique de la distance sur le D8 DISCOVER – l’équilibrage de la couverture angulaire et de la résolution n’a jamais été aussi facile.
Optique dédiée
Les optiques panoramiques et sans outil s’appuyant sur le champ de vision complet du détecteur ont été spécialement conçues pour l’EIGER2. Les optiques sont montées magnétiquement et équipées d’une reconnaissance des composants DAVINCI en temps réel. Ces accessoires complètent la solution de détection EIGER2 en minimisant la diffusion parasitaire ou d’autres effets indésirables tels que le frottis des anneaux de diffraction en mode 0D et 1D.
Les accessoires disponibles incluent :
- Filtres panoramiques, filtrage du rayonnement K-beta
- Sollers axials panoramiques, réduction des frottis et de l’asymétrie de pointe dans la géométrie Bragg-Brentano et Debye-Scherrer
- Tubes de vol et arrêts de faisceau évacués panoramiques, minimisant les effets de diffusion de l’air pour les applications de diffusion à rayons X à angle large (SAXS)
Galerie d’applications
Spécifications du détecteur EIGER2 R
Spécification |
Avantage |
|
Zone active |
250K: 38.4 x 38.4 = 1 475 mm² |
Grand champ de vision avec γ- et 2θ-couverture |
Pixels |
250K: 512 x 512 = 262 144 |
Excellente résolution spatiale à travers la zone active |
Taille du pixel |
75 x 75 μm² |
Résolution de l’équilibre et taux de comptage Réduire au minimum le partage des frais |
Taux de comptage maximum |
>3.6 x 10⁸ ph/s/mm² |
Parfait pour les mesures de plage dynamique élevée, telles que XRR et HRXRD, sans avoir besoin d’absorbeurs |
Gamme dynamique |
> 10⁹ ph/s/mm² |
Sensibilité maximale pour la meilleure qualité de données 2D |
Discriminateurs |
2, seuil inférieur et supérieur |
Amélioration du signal à l’arrière-plan grâce à la réduction du rayonnement fluorescent et cosmique |
Technologie |
Technologie EIGERde 2ème génération, comptage de photon hybride |
Conversion rapide du photon pour les taux de comptage les plus élevés et la plage dynamique |
Longueurs |
Cr, Co, Cu, Mo et Ag (5 keV – 23 keV) La stabilité prouvée de rayonnement de Synchrotron |
Un détecteur pour toutes les longueurs d’onde communes Aucun dommage par faisceau direct |
Épaisseur du capteur |
450 μm |
> 99% Cr, Co, Cu; 50% Mo; 30% Ag capteur efficiencey |
Modes d’analyse |
0D, 1D et 2D étape et scans continus 1D et 2D Snap-Shot et modes d’analyse avancés |
Implémentation complète et unifiée de l’analyse 0D/1D/2D Sélection flexible du roi le long de γ et 2θ dans tous les modes Algorithmes de données 2D sans distorsion (brevet en instance) |
Médias d’exploitation |
Aucun |
Pas d’entretien et pas de frais supplémentaires pour les consommables La conception sans médias assure une longue durée de vie du détecteur sans entretien de routage |
Applications |
XRR, HRXRD; Identification de phase, quantification, raffinement de la structure, stress résiduel, texture, micro-cartographie, diffraction 2D |
Ressources familiales détecteur EIGER2
Notes d’application et rapports de laboratoire
- Réflectométrie à rayons X avec l’EIGER2 : Enquête sur un revêtement Ta sur Si et un superlattice GaN/AlN
- RSM à grande surface avec l’EIGER2 R 500K : Analyse des films épitaxiques InxGa1-xN, GaAs et Si1-xGex
- Analyse de texture avec EIGER2 R 500K et DIFFRAC. TEXTURE : Enquête sur les feuilles d’aluminium roulées et dessinées
- Stress résiduel avec EIGER2 R 500K : étude 0D, 1D et 2D d’un revêtement de tungstène polycristalline sur silicium
- μXRD en géologie avec EIGER2 R 500K: Étude in situ de Lazulite de Graves Mountain, Géorgie, Etats-Unis
- Analyse XRD rapide des produits pharmaceutiques : Instantané 1D et mode 2D avec l’EIGER2 R 500K
Flyers et feuilles de produits
Service & Support
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