Diffraction des rayons X - XRD, X-ray scattering

Diffraction des rayons X

Caractérisation des propriétés des matériaux, de la recherche fondamentale au contrôle de la qualité dans l'industrie

Le portefeuille des dispositifs de diffraction des rayons X de Bruker couvre un large éventail de techniques de diffusion des rayons X pour assurer la caractérisation des matériaux et le contrôle de la qualité de matériaux cristallins ou non cristallins comme, par exemple, des poudres, des blocs solides, des films minces ou des liquides.

Parmi les techniques employées figurent la diffraction de poudres par rayons X (XRPD), la diffusion diffuse ou "totale" (analyse PDF), la diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) et l'analyse des films minces. Une conception à plate-forme unique permet de configurer chaque instrument afin de pouvoir effectuer un large éventail d'applications.

Bruker, AXS, Daltonics, BioSpin, Optics, Corporation

Our X-ray diffraction instruments

  • D8 ADVANCE ECO - ECO logique, ECOnomique, ECO performance
  • D8 ADVANCE - la solution multifonctions pour la diffraction des rayons X sur poudre
  • D8 DISCOVER - système de pointe de diffraction des rayons X pour des applications de recherche sur les matériaux
  • D8 FABLINE - solution de métrologie pour l'industrie des semi-conducteurs
  • D4 ENDEAVOR - contrôle de la qualité des et des processus industriels pour les industries du ciment, des minéraux, de l’aluminium et pour l’industrie pharmaceutique
  • D2 PHASER - outil de diffraction des rayons X de bureau

Our SAXS instruments

  • N8 HORIZON - système compact de diffraction des rayons X aux petits angles pour la recherche avancée sur les matériaux
  • NANOSTAR - la meilleure solution pour la diffraction des rayons X aux petits angles
  • MICRO Series - SAXS WAXS haut débit pour la recherche en Biologie

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