타의 추종을 불허하는 처리량
민감한 샘플 분석
QUANTAX FlatQUAD는 XFlash® FlatQUAD를기반으로 EDS 마이크로 분석 시스템입니다. 이 4채널 실리콘 드리프트 검출기는 SEM pole peice와 샘플 사이에 삽입되어 EDS에서 최대 고체 각도를 구현합니다. QUANTAX FlatQUAD는 ESPRIT 분석 소프트웨어 제품군과 함께 가장 어려운 샘플에서도 높은 매핑 성능을 제공합니다.
브루커 XFlash® FlatQUAD 검출기의 독특한 환상 설계와 SEM 폴 피스와 샘플 사이의 위치는 타의 추종을 불허하는 단색 각도로 이어져 더 빠른 측정으로 직접 변환됩니다. QUANTAX FlatQUAD는 ESPRIT 소프트웨어 제품군과 함께 가장 낮은 빔 전류 또는 지형이 높은 샘플과 같은 민감한 샘플을 분석하기에 이상적인 계측기를 제공합니다.
또한 XFlash® FlatQUAD는 SEM 또는 FIB를 저전압 분석 STEM로 전환하여 가장 높은 공간 및 분광 해상도로 전자 투명 샘플을 보다 시기 적이고 비용 효율적인 방법으로 분석할 수 있습니다.
전자 투명 샘플에서 더 많은 정보를 얻으려면 XFlash® FlatQUAD와 OPTIMUS 헤드로 개조된 eFlash EBSD 검출기를 결합합니다.