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AFM-Leistung neu definiert

Neue Niveaus der Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit für Nanowissenschaftler.

Das Atomkraftmikroskop Dimension Icon® bringt neue Niveaus der Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit für Nanowissenschaftler in Forschung und Industrie. Das System, das die Kulmination jahrzehntelanger AFM-Technologie für große Proben ist, wurde nach dem Top-to-Bottom-Prinzip entwickelt, um revolutionären niedrigen Drift und niedriges Rauschen zu liefern, damit Benutzer artefaktfreie Bilder in Minuten anstatt von Stunden erhalten können. 

Das Icon ist zudem mit der proprietären automatischen Bildoptimierungstechnologie ScanAsyst® ausgestattet, die unabhängig vom Kompetenzgrad des Benutzers einfachere, schnellere und konsistentere Ergebnisse ermöglicht. Die ungewöhnliche Benutzerfreundlichkeit, ultimative Leistung, außergewöhnliche Produktivität und überlegene Vielseitigkeit machen das Icon zu einer idealen Wahl für praktisch jede AFM-Anwendung.

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