Le microscope à forces atomiques AFM Dimension Icon® permet d'atteindre les nouveaux niveaux de performances, de fonctionnalité et d'accessibilité à la microscopie AFM dont peuvent bénéficier les chercheurs dans les secteurs de la science et de l'industrie à l'échelle nanométrique. Point culminant de plusieurs décennies d'existence de la technologie AFM portant sur les gros échantillons, ce système a été mis au point, de haut en bas, pour offrir un ensemble révolutionnaire dont la faible dérive et les bas niveaux sonores permettent aux utilisateurs d'obtenir des images sans phénomène indésirable en quelques minutes et non plus en quelques heures.
