Présentation générale du D4 ENDEAVOR

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D4 ENDEAVOR

La solution par diffraction des rayons X pour des cadences élevées d'échantillonnage

Le D4 ENDEAVOR est une solution de diffraction des rayons X (XRD) qui permet d'analyser des matériaux cristallins par le biais d'une diffraction de poudres par des rayons X. Le D4 ENDEAVOR réalise une analyse qualitative et quantitative des phases cristallines, une analyse des pointes de profils, une détermination des contraintes résiduelles et des solutions de structures. À ce titre il offre des performances optimales pour le contrôle des procédés et de la qualité dans les industries de l'aluminium, du ciment, de la chimie, de la géologie, de la pharmaceutique et des pigments.

Des détecteurs novateurs unidimensionnels à rayons X

Outre ses qualités dûment éprouvés de précision, répétabilité et fiabilité, le D4 ENDEAVOR bénéficie de la modularité de la famille des solutions de diffraction AXS de Bruker. Le D4 ENDEAVOR peut être équipé de détecteurs novateurs unidirectionnels à rayons X – LYNXEYE ou VÅNTEC-1 – ce qui permet de réduire dans des proportions considérables la durée de la mesure pour chaque échantillon.

L'approche à paramètres fondamentaux mise en œuvre dans TOPAS

Le logiciel TOPAS unique convertit le D4 ENDEAVOR en un dispositif révolutionnaire. L'analyse quantitative par diffraction à rayons X et l'analyse des micro-structures peuvent se faire sans avoir besoin d'échantillons standard du fait de l'approche à paramètres fondamentaux qu'exploite TOPAS. En outre, une automatisation complète se passant de toute intervention de l'utilisateur est possible avec TOPAS BBQ.

Le D4 ENDEAVOR s'utilise facilement. L'interface d'automatisation est claire et simple et le chargement des échantillons s'effectue par le biais d'une bande de convoyage ou d'un robot. Le D4 ENDEAVOR est équipé du plus gros chargeur d'échantillons qui permet de charger dans le cadre d'un même lot un large éventail d'échantillons différents. Ces échantillons peuvent être minces, petits ou de faible volume, de forme irrégulière, sensibles à l'environnement ou se présenter sous la forme d'une poudre orientée ou d'une poudre typique.

Pour de plus amples informations

D4 ENDEAVOR – Les solutions par diffraction (Brochure en PDF)

SOL-XE energy dispersive X-ray detector (Document en PDF)

LYNXEYE – Super speed detector for X-ray powder diffraction (Document en PDF)