Diffraction de rayons X - XRD | Bruker Corporation

Diffraction des rayons X

Caractérisation des propriétés des matériaux, de la recherche fondamentale au contrôle de la qualité dans l'industrie

Le portefeuille des dispositifs de diffraction de rayons X de Bruker couvre un large éventail de techniques de dispersion des rayons X pour assurer la caractérisation des matériaux et le contrôle de la qualité de matériaux cristallins ou non cristallins comme, par exemple, des poudres, des blocs solides, des films peu épais ou des liquides.

Parmi les techniques employées figurent la diffraction de poudres par rayons X (XRPD), la dispersion diffuse ou "totale" (analyse PDF), la dispersion par rayons X sous de faibles angles (SAXS), l'analyse des films peu épais et l'imagerie par rayons X. Une conception à plate-forme unique permet de configurer chaque instrument afin de pouvoir effectuer un large éventail d'applications.