Difracción de rayos X (XRD)

Difracción de rayos X

Caracterización óptima de materiales desde investigación fundamental hasta control de calidad industrial

La cartera de difracción de rayos X de Bruker abarca una amplia gama de técnicas de dispersión de rayos X para caracterización de materiales y control de calidad de materiales cristalinos o no cristalinos, tales como polvo, bloques sólidos, películas finas o líquidos.

Estas técnicas incluyen difracción de rayos X en polvo (XRPD), difracción difusa o "total" (análisis en PDF), difracción de rayos X en ángulo pequeño (SAXS), análisis de películas finas y formación de imágenes por rayos X. Un diseño exclusivo de plataforma permite configurar cada instrumento para una amplia gama de aplicaciones.