Digital EPR Upgrade Banner

CW-EPR 数字化升级

如今更高水平的新一代数码 CW-EPR 波谱仪已可用于您当前的 EMX/ELEXSYS 晶片机系统,可为您提供多种益处。

ELEXSYS

改良后的 32 位振幅分辩率、快速数字转换器和迅速扫描数据采集系统

SPU独特的数字化锁定技术,使仪器能够在单次扫描中为相同接收增益设置的强信号和弱信号提供相同的检测性能和数字化分辨率。SPU 还可以作为快速数字转换器使用,可实现瞬时采集,还作为快速扫描驱动器,实现极快扫场。
锁定:

 

  • 同时检测多达 5 个谐波
  • 吸收和散射通道
  • 高达 10 微秒的分辨率,适用于时间扫描

信号处理单元 (SPU)

快速数字转换器

  • 125 MHz 采样率
  • 64 k 机载平均值
  • 时域信号中可呈现 16 k 个点

快速扫描

  • 200 G 扫描范围
  • 点数最多 16 k

场分辨率高达 256000 点

极高磁场分辨率,适用于较窄与较宽的扫描范围。扫场实验中的点数可在 2-256000 点之间持续变化。

Xepr 软件集

Xepr 新功能

  • XeprAPI for Python® 编程文本界面
  • 高精度双集成工具
  • SpinCount 软件模块,适用于不含参考样品的定量 EPR
  • SpinFit 软件模块,适用于自旋捕获数据的分析

Xepr SpinCount

  • 无需参考标样的自旋数定量
  • 单次测量
  • 准确的结果报告和信息记录
  • 操作方便,精确度高

Xepr SpinFit

  • 通过自旋捕捉剂数据库的资料定义加合物
  • 将数据库中载入的加合物谱图与实验谱图做最佳拟合
  • 使用 SpinCount™ 确定各成分的浓度

EMX

新开发的信号通道和场控制器,通过以太网连接

这些新型数字化设备可在场和信号强度的分辨率方面提供更优的动态可调范围。

信号通道:提升后的信号强度分辨率,24 位

在单次扫描中,对具有相同的接收器增益设置的信号,能同时准确地显示出很强的信号峰和很弱的信号峰,并对其进行数字化修正。

霍尔控制器:提升后的场分辨率,256 000 点

极高磁场分辨率,适用于较窄与较宽的扫描范围。

Xenon 软件集

特点

  • 易于学习 – 易于处理基于 Linux 的软件包
  • 集成采集与处理软件
  • 自动扫描分辨率设置
  • 饱和程度分析实验的 P½ 装配
  • 高精度双集成工具
  • SpinCountTM 软件模块,适用于不含参考样品的定量 EPR
  • SpinFitTM 软件模块,适用于自旋捕获数据的分析
  • BES3T 数据格式,与 ELEXSYS 一样

Xepr SpinCount

  • 无需参考标样的自旋数计算
  • 单次测量
  • 准确的结果报告和信息记录
  • 操作方便,分辨率高

Xepr SpinFit

  • 通过自旋捕获剂数据库的资料定义加合物
  • 将数据库中载入的加合物谱图与实验谱图做最佳拟合
  • 使用 SpinCount™ 确定加合物的浓度

选择我们的一种升级方式,将您当前的 EMX/ELEXSYS 晶片机或 ESP 系统升至更高水平。

应用的价格和技术详情