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适用于科研和生产的全面、精准的表面测量手段

Contour GT-I配备倾斜调整支架、自动样品台和多物镜自动塔台,实现全面、精准的表面测量任务,满足科研和生产各领域检测需求。Contour GT-I采用Bruker专利的抗震测量技术,及节省空间高稳定性的基座设计,保证在生产车间测试环境条件非常苛刻的情况下,也能完成准确高效的产品测量。

测试过程更快、更便捷

  • 配备倾斜调整支架
  • „„全自动X,Y, Z 样品台
  • „„自动视场目镜转换台

稳定的防震性与灵活性的杰出组合

  • 节省空间高稳定性的基座设计
  • 与机台集成一体式的防震系统

全面、强大的样品检测和数据分析能力

  • 优化的用户界面,直观简洁
  • „„可选择实时的自动测量操作
  • „„用户可自行设置数据输出界面
  • „„自定义样品检测数据分析报告
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Traditional pitch-and-roll stage designs require operator adjustment of five axes of motion to maintain point of inspection on line of sight for measurement. The unique Bruker tip/tilt in the head design maintains the line of sight on the point of inspect
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