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业界最先进的白光干涉仪

ContourGT-X配备倾斜调整支架、全自动X,Y, Z 样品台、自动视场目镜转换台,测试过程更快、更便捷。节省空间高稳定性的基座设计以及与机台集成一体式的防震系统,使系统具有最强的防震性与稳定性。配备最新的Vision64软件,具有业界最强的仪器测量和数据分析功能,而其优化设计的用户界面为使用者自行定义自动测量和数据分析提供了极大的便利。

仪器特性

业界标杆,大视场下最高的垂直分辨率

  • 从0.5x到200x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征
  • 硬件的优化设计进一步提升的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性
  • 激光自校准专利技术使得仪器间测量数据一致,保证测量的重复性和准确性
  • 优异的缝合能力可以对上千个数据无缝拼接,实现样品大面积检测
  • 多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍以上
  • AcuityXR™技术突破光学极限,大大提高三维光学形貌仪的成像分辨率,可以获得小于130nm的样品表面细节信息
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ContourGT-X8 closeup
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