X 射线衍射 (XRD)

D8 ADVANCE

快速转换专家

D8 ADVANCE:XRD、PDF和SAXS分析的解决方案

0D-1D-2D
所有维度都非常优质的数据质量
不论在何种应用场合,它都是您的优选探测器:高的计数率、动态范围和能量分辨率
DAVINCI
面向未来的多用途
采用了开放式设计并具有不受约束的模块化特性的同时,将用户友好性、操作便利性以及安全操作性发挥得淋漓尽致,这就是布鲁克DAVINCI设计
≤0.01°2Ɵ
峰位精度
布鲁克提供基于NIST标样刚玉(SRM 1976c)整个角度范围内的准直保证
布鲁克独家准直保证
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D8 ADVANCE 是一种 X 射线衍射平台,可轻松适应各种分析需求。

D8 ADVANCE—面向未来的X射线衍射解决方案

D8 ADVANCE X 射线衍射仪

基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE,是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选,如:

  • 典型的X射线粉末衍射(XRD)
  • 对分布函数(PDF)分析
  • 小角X射线散射(SAXS)和广角X射线散射(WAXS)

由于具有出色的适应能力,仅使用D8 ADVANCE,您就可对所有类型的样品进行测量:从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。

无论是新手用户还是专家用户,都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的:配置仪器时,免工具、免准直,同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。

不仅如此——布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉(SRM1976)的准直保证。目前,在峰位、强度和分辨率方面,市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。

主要功能

D8 ADVANCE功能

TWIN / TWIN 光路

布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

D8 ADVANCE功能

动态光束优化(DBO)

布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

D8 ADVANCE功能

LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有最高的计数率和最佳的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能最佳的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余Kß和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。

布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证:交货时保证无坏道!

一台衍射仪—所有应用

D8 ADVANCE应用

粉末衍射

X射线粉末衍射(XRPD)技术是最重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息,直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下,您将能简单地实施常见的XRPD方法:

  • 鉴别晶相和非晶相,并测定样品纯度
  • 对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析
  • 微观结构分析(微晶尺寸、微应变、无序…)
  • 热处理或加工制造组件产生的大量残余应力
  • 织构(择优取向)分析
  • 指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修
D8 ADVANCE应用

对分布函数分析

对分布函数(PDF)分析是一种分析技术,它基于Bragg以及漫散射(“总散射”),提供无序材料的结构信息。其中,您可以通过Bragg衍射峰,了解材料的平均晶体结构的信息(即长程有序),通过漫散射,表征其局部结构(即短程有序)。

就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言,D8 ADVANCE和TOPAS软件代表了市面上性能最佳的PDF分析解决方案:

  • 相鉴定
  • 结构测定和精修
  • 纳米粒度和形状
D8 ADVANCE应用

薄膜和涂层

薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同,不过进一步提供了光束调节和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时,着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析(从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜)。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析:

  • 掠入射衍射
  • X射线反射法
  • 高分辨率X射线衍射
  • 倒易空间扫描

D8 ADVANCE 规格

功能

规格

优势

TRIO 光路和TWIN光路

软件按钮切换:

马达驱动发散狭缝(BB几何)

高强度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

专利:US10429326、US6665372、US7983389

可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预

是所有类型的样品分析的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

动态光束优化

动态同步:

马达驱动发散狭缝

马达驱动防散射屏

可变探测器窗口

2Ɵ角度范围:小于1度至>大于150度

数据几乎不受空气、仪器和样品架散射的影响

大大提高了检测下限,可定量分析少量晶相和非晶相

在较小的2θ角度,具有无与伦比的性能,可对粘土、药物、沸石、多孔材料及其他材料进行精确研究

LYNXEYE XE-T

能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV

检测模式:0D、1D、2D

波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

专利:EP1647840、EP1510811、US20200033275

无需Kß滤波片和二级单色器

铜辐射即可100%过滤铁荧光

速度比传统探测器系统快450倍

BRAGG 2D模式:使用发散的初级线束收集2D数据

独一无二的探测器保证:交货时绝无坏道

EIGER2 R

Dectris 公司开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D / 1D / 2D)

在步进扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测

符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围

使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 

连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率

旋转光管

在线焦斑和点焦斑应用之间轻松快捷地进行免对准切换

无需断开电缆或水管,无需拆卸管道

DAVINCI设计:全自动检测和配置聚焦方向

自动进样器

FLIPSTICK:9个样品

AUTOCHANGER:90个样品

在反射和透射几何中运行

D8 测角仪

带独立步进电机和光​​学编码器的双圆测角仪

布鲁克独有的准直保证,确保了无与伦比的准确性和精确度

绝对免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑

非环境条件

温度:从~85K到~2500K

压力:10-⁴mbar至100 bar

湿度:5%至95%

在环境和非环境条件下进行研究

DIFFRAC设计助您轻松更换样品台

XRD 组件

XRD 组件

Bruker XRD解决方案包含一系列为满足分析要求配置的高性能组件。模块化设计是打造最佳仪器的关键所在。

各类组件都是布鲁克核心竞争力的组分部分,它们由布鲁克AXS开发或制造而成,或通过与第三方供应商密切合作而得。

布鲁克XRD组件可用于升级现有的X射线系统,用于提高其性能。

使用DIFFRAC.SUITE进行规划、测量和分析

迪夫拉克SUITE 软件

DIFFRAC.SUITE™带来了丰富的软件模块,让您轻松实现X射线粉末衍射数据的采集和评估。基于Microsoft的.NET技术,DIFFRAC.SUITE提供了现代软件技术的所有优点,以实现稳定性、最大​​的易用性和联网。

完全可定制的用户界面的特点是插件框架,提供了通用的外观,感觉和操作。所有测量和评估软件模块都可以作为单独的应用程序运行,也可以集成到DIFFRAC.SUITE的插件框架中。无限制的联网允许访问和控制客户网络内任意数量的D2 PHASER,D8 ADVANCE,D8 DISCOVER和D8 ENDEAVOR衍射仪。

 

测量软件:

WIZARD–方法规划

COMMANDER–方法执行和直接测量

TOOLS–仪器控制的工具入口:

粉末衍射软件:

DQUANT –定量相分析

EVA –相鉴定和定量相分析

TOPAS –峰型分析、定量分析、结构分析

 

材料研究软件:

SAXS –小角度X射线散射软件

XRR –全面的X射线反射分析

TEXTURE–全面的织构分析满足易用性

LEPTOS –薄膜分析/残余应力研究

服务与支持

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