software, X-ray fluorescence, SPECTRA

SPECTRAplus、SPECTRA.ELEMENTS 和 SPECTRA EDX

X 射线荧光分析 (XRF) 易于实现

日常工作中操作简易、提供最佳智能分析支持、甚至最严苛应用中亦可实现高度灵活性:高性能 X 射线荧光分析 (XRF) 借助 SPECTRAplus、 SPECTRA.ELEMENTS 和 SPECTRA EDX 轻松实现。 用于定性、非标和定量分析的完整软件包 非标和定量分析的完整软件包提供现代软件操作的所有优点,包括快速点击式操作乃至实时多任务处理。规范观感以及大量帮助文件,自始至终轻松使用:操作简易、快速,培训需求降至最低。

SPECTRAplus、SPECTRA.ELEMENTS 和 SPECTRA EDX 的集成式“日常检查工作”是依据 GLP(良好实验室规范)进行简易定期仪器检查的基础。

通过 X 射线荧光 (XRF) 进行非标分析 – 完全集成以实现最佳分析支持

非标分析(X 射线荧光分析 (XRF) 的主要优势)可在不执行校准的情况下快速、轻松测定化学构成。由于采用基于可变 α 的强大基体校正,无论使用何种样品制备方式,均可使用优化的测量参数分析各类样品的化学构成。采用 SPECTRAplus,SPECTRA.ELEMENTS 和 SPECTRA EDX 进行非标分析可实现灵活性:设置分析目标,采用快速扫描模式迅速测定,或针对之后的交互评价增强精准度和精密性。

 

SPECTRAplus,SPECTRA.ELEMENTS和 SPECTRA EDX 分析中完全集成非标校准,实现最佳分析支持:对所有单元素提供优化测量条件,可使用推荐的线叠置和重叠因子。最重要的优势在于可在用户特定校准中集成非标校准参数,扩展专用方法,测量无可用标准的元素:最大灵活性。