solution, X-ray fluorescence, METAL-QUANT, GEO-QUANT, CEMENT-QUANT, PETRO-QUANT, ROHS-QUANT, QUANT-EXPRESS

MLplus

通过 XRF 进行多层和薄膜分析

多层样品的层厚度和化学构成可通过 X 射线荧光分析 (XRF) 轻松测定。分层样品直接在波长色散 X 射线荧光分光仪 (WDXRF) S4 PIONEER 或 S8 TIGER 上分析。

MLplus 是对 SPECTRAplus 的扩展,采用波长色散 X 射线荧光分析 (WDXRF) 对单层样品和多层样品进行分析。它可直接测定分层样品的厚度和构成,这些样品小至几个原子层(不足 1 纳米)、大至微米级或甚至毫米级范围。

MLplus 对所有计算均采用完全基本参数方法。 MLplus 厚度和构成测定基于 SPECTRAplus 非标校准,即无需采用特定多层标准。然而,可使用任何可用多层标准优化结果。

模型设置后,MLplus 可在每次测量后用于自动评估。这可在日常工艺控制(如分层玻璃或镀层钢板生产)中实现 中实现多层分析。