X線回折・X線散乱測定システム

Brukerでは、X線回折装置やX線散乱装置ならびにそれらの分析ソリューションを開発・製造しています。当社の革新的な装置とソフトウェアは、教育機関、官公庁、産業界における研究、開発、品質管理に幅広く利用されています。重工業、原料供給、化学、製薬、エレクトロニクス、半導体、ナノテクやバイオテクノロジー、モビリティ、エネルギー、環境科学など、幅広い分野のお客様に分析ソリューションサービスを提供し、その技術を進歩させ、プロセスを加速します。

X線回折装置 (XRD)

X線回折装置 (XRD)

結晶質および非晶質粉末、バルク、薄膜材料における結晶構造、材料特性や結晶相解析

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単結晶X線構造解析装置 (SC-XRD)

単結晶X線構造解析装置 (SC-XRD)

低分子化合物および生体分子の結晶構造解析

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小角X線散乱装置 (SAXS)

小角X線散乱装置 (SAXS)

1nmから100nmにいたる粒子分析およびナノ材料解析

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中古SC-XRDシステム

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