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Chemische Charakterisierung von Oberflächen

Die Infrarot- und Ramanspektroskopie ermöglichen die schnelle Identifizierung und Charakterisierung der chemischen Beschaffenheit von Oberflächen. In Verbindung mit der Mikroskopie können chemische Bilder mit einer Ortsauflösung im Bereich weniger Mikrometer aufgenommen werden.

Die Infrarotspektroskopie ist eine sehr leistungsfähige Methode zur Analyse der chemischen Beschaffenheit von Oberflächen. Die Anwendung von Reflexionstechniken wie der Abgeschwächten Totalreflexion (ATR) und der Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS) ermöglicht die Messung auf verschiedensten Substraten und an Grenzflächen. In der Qualitätskontrolle lässt sich das ALPHA II zur kontaktfreien Überprüfung der Reinheit metallischer Oberflächen nutzen.

Das Raman-Mikroskop SENTERRA II ist zur kontaktfreien Analyse von Beschichtungen, insbesondere DLC und Silizium, geeignet. Weiterhin ermöglichen konfokale Messungen die Untersuchung von Grenzflächen, z.B. an Katalysatoren.