FT-IR-Mikroskope der HYPERION-Serie

Empfindlichkeit, laterale Auflösung

Das laterale Auflösungsvermögen des HYPERION ist nur durch die Beugung des Lichtes begrenzt. Durch den hohen Lichtdurchsatz wird selbst bei höchster lateraler Auflösung eine sehr hohe Empfindlichkeit erreicht. Der Infrarotstrahl im HYPERION ist konfokal. Feldblenden können im Modus Transmission und Reflexion einzeln in den Bildebenen vor und nach der Probe gesetzt werden. In der Standardausführung ist das HYPERION mit einer einzelnen transparenten Schneidenblende ausgestattet. Optional sind Metallschneidenblenden, Irisblenden und Blendenräder sowie automatische, softwaregesteuerte Schneidenmesserblenden erhältlich.

Flexibilität der Probenmessung

Zur FT-IR-mikroskopischen Analyse im Modus Transmission muss die Probe üblicherweise mit Hilfe eines Mikrotoms als 5 - 15 µm dünner Schnitt präpariert werden. Liegt die Probe als dünne Schicht auf einem gut reflektierenden Probenträger vor, ist die Messung im Modus Reflexion möglich. Hier werden ein 15-fach-Objektiv oder für kleinere Proben auch stärker fokussierende Objektive (20x, 36x) verwendet. Allerdings sind viele Proben weder transparent noch hinreichend reflektiv und werden daher meistens mit Hilfe der ATR-Technik (Abgeschwächte Total Reflexion) vermessen. Das speziell für das HYPERION entwickelte ATR-Objektiv (20-fach) kombiniert eine uneingeschränkte visuelle Qualität bei der Probenbetrachtung mit einer extremen IR-Messempfindlichkeit. Verschiedene an dem Objektiv einstellbare Druckstufen gewährleisten einen für jede Probenhärte adäquaten Anpressdruck des ATR-Kristalls. Ein im ATR-Objektiv integrierter Drucksensor sorgt auch bei automatisierten ATR-Mapping-Experimenten für einen reproduzierbar guten Kontakt zwischen Kristall und Probe. Um die Messung sehr dünner Schichten (Monolagen) auf metallischen Oberflächen zu ermöglichen, ist häufig die Messung im streifenden Einfall erforderlich, bei der die Wechselwirkung des IR-Lichtes mit der Probe verstärkt wird. Das von Bruker patentierte Design des Streiflicht-Objektivs (GAO) bietet eine sehr hohe Nachweisempfindlichkeit, die zur Untersuchung mono-molekularer Schichten benötigt wird. Gleichzeitig sind mit diesem Objektiv auch polarisationsabhängige Messungen möglich.

Spektralbereich

Der Spektralbereich des HYPERION kann vom mittleren Infrarot bis Nahinfrarot (NIR) und sogar bis in den sichtbaren Bereich (bis 25.000 cm^-1) und den fernen Infrarotbereich (bis zu 80 cm ^-1) erweitert werden. Um diesen extremen Spektralbereich abzudecken, sind viele verschiedene Detektoren erhältlich, die vom Anwender leicht ausgetauscht werden können. Weiterhin kann das HYPERION parallel mit bis zu zwei Detektoren ausgestattet werden, wobei die Umschaltung zwischen Positionen über die Software gesteuert wird.

Software

Das HYPERION wird über die Software OPUS, eine bedienerfreundliche, leistungsstarke All-in-One-Spektroskopie-Software, gesteuert. Sie enthält die umfassendste Sammlung von Datenerfassungs-, -verarbeitungs- und -auswertungsfunktionen. Die Benutzeroberfläche der Software kann für Routineanalysen im Labor sowie für fortschrittliche Anwendungen in der Forschung und Entwicklung angepasst werden. Alle resultierenden Spektren, visuellen Bilder, IR-Bilder, RGB- und PCA-Kurven und Anmerkungen werden in einer Datei gespeichert, um Datenintegrität zu gewährleisten und die Datenmanipulation einfach zu machen. Die Datenerfassung mit dem HYPERION ist sehr einfach, da der Nutzer von eleganten Assistenten (OPUS 7.0) geführt wird. Viele uni- und multivariate Algorithmen sind in OPUS implementiert, um die relevanten Informationen aus den gemessenen Einzel- oder 3D-Daten zu extrahieren. Die resultierenden IR-Bilder können in verschiedenen 2D- und 3D-Perspektiven über oder neben dem sichtbaren Bild angezeigt werden.

Spektrometerdiagnostik

Das HYPERION FT-IR-Mikroskop liefert verlässliche Daten. Der PerformanceGuard™ des Spektrometers enthält eine permanente Online-Diagnose, eine Echtzeitanzeige des Instrumentenstatus und integrierte automatische Instrumententests (OQ, PQ). Die OPUS-Software bietet Ihnen zudem auch die Möglichkeit, FT-IR-Analytik unter Einhaltung der GMP- und 21CFR-Part11-Richtlinien durchzuführen.

Flexibles Design

Die HYPERION-Serie ist eine vollständig aufrüstbare Mikroskop-Plattform für die Durchführung modernster optischer und Infrarot-Analysen. Das HYPERION 2000 enthält alle Funktionen, die im HYPERION 1000 zu finden sind, und das HYPERION 3000 enthält alle Funktionen, die im HYPERION 2000 zu finden sind.

• HYPERION 1000: Leistungsstarkes IR-Mikroskop mit Transmissions- und Reflexionsmodus, transparenter Schneidenblende, manuellem xy-Probentisch, Objektivrevolver mit 15x-Cassegrain und 4x-Vis-Objektiv sowie Okular und Video-Einrichtung.
• HYPERION 2000: Vollautomatisiertes Mikroskop auf Basis des HYPERION 1000 mit motorisiertem Probentisch sowie zusätzlichem, im Mikroskop-Stativ integriertem LCD-Bildschirm.
• HYPERION 3000: Vollautomatisiertes FT-IR-Bildgebungsmikroskop mit moderner Focal Plane Array (FPA)-Detektor-Technologie. Das System umfasst auch alle Funktionen des HYPERION 2000.