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Die VERTEX 70- und VERTEX 70v-Spektrometer erfüllen in idealer Weise die Erfordernisse für Forschungsanwendungen, bei denen hohe Empfindlichkeit, Stabilität und Zeitauflösung benötigt werden. Der verfügbare Spektralbereich bis zum FIR/THz ermöglicht zusätzlich weitere spezifische Anwendungen in der industriellen Entwicklung und Analytik. Die vielfältigen VERTEX 70/70v-Instrumente bieten zusammen mit passenden Zubehören und der Verwendung der richtigen Messtechnik eine Lösung für fast jede Aufgabe im Bereich der FT-IR-Spektroskopie.

Forschung & Entwicklung

  • Zeitaufgelöste Spektroskopie mit kontinuierlicher und Step-Scan-Technologie sowohl mit Amplituden- (AM) als auch Phasenmodulation (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • FT-IR-Spektroskopie im Ultrahochvakuum
  • FT-IR-Spektroelektrochemie für die in-situ-Charakterisierung von Elektrodenoberflächen und Elektrolyten
  • Untersuchungen von Proteinen in Wasser (CONFOCHECK)

Pharma

  • Bestimmung der absoluten Konfiguration von Molekülen (VCD)
  • Bestimmung der Stabilität und der flüchtigen Bestandteile von Medikamenten mit Hilfe thermoanalytischer Verfahren (TGA-FT-IR)
  • Unterscheidung von Polymorphen desselben Wirkstoffes im fernen Infrarotbereich (VERTEX FM)

Polymere und Chemie

  • Identifizierung anorganischer Füllstoffe in Polymerkompositen im fernen Infrarotbereich (VERTEX FM)
  • Dynamische und rheo-optische Untersuchungen von Polymeren
  • Bestimmung flüchtiger Bestandteile und Zuordnung der Zersetzungsprozesse mit Hilfe der thermischen Analyse (TGA-FT-IR)
  • Reaktionsbeobachtung und Reaktionskontrolle (MIR-Fasersonde)
  • Identifizierung anorganischer Mineralien und Pigmente

Oberflächenanalytik

  • Erkennung und Bestimmung von dünnen Schichten und Monolagen
  • Oberflächenuntersuchungen mit Hilfe der Polarisationsmodulations-Technik (PM-IRRAS)

Materialwissenschaft

  • Charakterisierung optischer und stark reflektierender Materialien (Fenster, Spiegel)
  • Untersuchungen von dunklen Materialien und Tiefenprofilierung durch photoakustische Spektroskopie (PAS)
  • Bestimmung des Emissionsvermögens von Materialien

    Halbleiter

    • Bestimmung des Sauerstoff- und Kohlenstoffanteiles in Siliziumwafern in der Qualitätskontrolle
    Weitere Informationen