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Die VERTEX 80- und VERTEX 80v-Spektrometer sind die High-End-Forschungsgeräte in der VERTEX-Reihe. Ihr innovatives Design der optischen Bank macht sie zu den leistungsfähigsten erhältlichen Laborspektrometern mit Vakuumtechnik oder Trockenluftspülung. Sie bieten den größten verfügbaren Spektralbereich vom UV/VIS (50000 cm-1) bis zum FIR/THz (5 cm-1), die höchste spektrale und zeitliche Auflösung und ein unerreichtes Maß an Flexibilität. Die vielseitigen VERTEX 80/80v-Spektrometer bieten mit ihrer Hochleistungstechnologie die passende Lösung für alle topaktuellen herausfordernden Anwendungen in der Forschung.

Forschung & Entwicklung

  • Kontinuierliche und Step-Scan-Spektroskopie mit Amplituden- und Phasenmodulation
  • Rapid-, interleaved und Step-Scan-Technologie für Experimente mit hoher zeitlicher Auflösung (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Charakterisierung von periodisch geordneten mikroskopischen Materialien, bekannt als Metamaterialien
  • Hochauflösungsspektroskopie für die Analyse von Gasen mit Auflösungen besser als 0.06 cm-1
  • Vakuum-FT-IR-Spektroskopie an Synchrotroninstallationen
  • Stopped-flow-Methoden für die Untersuchung der Enzymkatalyse
  • Externe Adaptation von Ultrahochvakuum-Messkammern
  • FT-IR-Spektroelektrochemie für in-situ-Untersuchungen von Elektrodenoberflächen und Elektrolyten

Pharma

  • Bestimmung der absoluten Konfiguration von Molekülen (VCD)
  • Bestimmung der Stabilität und der flüchtigen Bestandteile von Medikamenten mit Hilfe thermoanalytischer Verfahren (TGA-FT-IR)
  • Unterscheidung von Polymorphen desselben Wirkstoffes im fernen Infrarotbereich

Polymere und Chemie

  • Identifizierung anorganischer Füllstoffe in Polymerkompositen im fernen Infrarotbereich
  • Dynamische und rheo-optische Untersuchungen von Polymeren
  • Bestimmung flüchtiger Bestandteile und Zuordnung der Zersetzungsprozesse mit Hilfe der thermischen Analyse (TGA-FT-IR)
  • Reaktionsbeobachtung und Reaktionskontrolle (MIR-Fasersonde)
  • Identifizierung anorganischer Mineralien und Pigmente

Oberflächenanalytik

  • Erkennung und Bestimmung von dünnen Schichten und Monolagen
  • Oberflächenuntersuchungen mit Hilfe der Polarisationsmodulations-Technik (PM-IRRAS)

Materialwissenschaft

  • Charakterisierung optischer und stark reflektierender Materialien (Fenster, Spiegel)
  • Untersuchungen von dunklen Materialien und Tiefenprofilierung durch photoakustische Spektroskopie (PAS)
  • Bestimmung des Emissionsvermögens von Materialien

    Halbleiter

    • Bestimmung des Sauerstoff- und Kohlenstoffgehalts in Siliziumwafern
    • Tieftemperaturtransmissions- und Photolumineszenzmessungen (PL) von flachen Störstellen in der Qualitätskontrolle