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Atomkraftmikroskopie für gemusterte Saphirsubstrate

Fortschrittliche automatisierte Mess- und Produktionsfunktionen mit überlegener Auflösung für heute und für die Zukunft.

Das Atomkraftmikroskop Dimension Edge™ PSS mit AutoMET™-Messanalysesoftware von Bruker ist das ideale Nanomess- und Nanoinsspektionssystem für Hersteller von LED-Substraten und Dünnschichten. Das Edge PSS ist eine Erweiterung der Dimension Edge AFM-Plattform und integriert den unglaublichen Wert und die unglaubliche Auflösung, für die die Dimension AFM-Systeme bekannt sind, und bietet gleichzeitig eine

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