Nanoelectrical webslider 2018.007v2
DimensionIcon banner
Nanomechanical webslider 2017.074

Das Dimension Icon vereint die neuesten Entwicklungen der branchenführenden nanoskaligen Bildgebungs- und Charakterisierungstechnologien von Bruker in einem Rasterkraftmikroskop-System für große Proben. Mit dem temperaturkompensierten Wegmesssystem des Dimension Icon wird nur äußerst geringes Bildrauschen erzeugt (im Sub-Angström-Bereich in z-Richtung und im Angström-Bereich in x- und y-Richtung). Ein Leistungsvermögen auf solch hohem Niveau hat sich bereits zum neuen Standard in der Rasterkraftmikroskopie entwickelt.

Ultimative Leistung

  • Der von Bruker eigens entwickelte Sensoraufbau erzielt Leistungen im geschlossenen Regelkreis mit bisher unvorstellbar niedrigem Rauschanteil
  • erheblich verringertes Grundrauschen auf unter 30 pm für eine Bildauflösung im Subnanometerbereich
  • mit Abweichungsraten von unter 200 pm pro Minute können unverzerrte Bilder unverzüglich erstellt werden

Verbesserte Automatisierung im Nano-Bereich

Die neue Sotware AutoMET™ von Bruker verbindet hochauflösende Bildgebung mit schneller, automatisierter Messtechnik. Besonders in Anwendungsbereichen, in denen große Mengen an Messungen vorgenommen werden, ist sie sehr einfach zu bedienen und passt sich qualitätsrelevanten Messungen sehr gut an. AutoMET verfügt über eine intuitive und einfach formulierte Schreibumgebung, mit der aufwendige Messroutinen zu einfachen Knopfdruck-Abläufen werden.

 

Außergewöhnliche Produktivität

  • schnelle und optimale Messkopfausrichtung durch integrierte Justierwerkzeuge
  • schnellere und effizientere Probenlenkung durch eine hochauflösende Kamera und X-Y-Positionierung
  • mithilfe der Softwares ScanAsyst® und NanoScope® mit Standardmodi wird über Jahrzehnte angesammeltes Wissen in vorkonfigurierten Einstellungen gebündelt

Ausgezeichnete Vielseitigkeit

  • da Messspitze und Probe leicht zugänglich sind, können viele verschiedene Standardexperimente sowie individuelle Experimente durchgeführt werden
  • vollständige und sehr genaue Abbildung von dielektrischer und elektrischer Leitfähigkeit im Nano-Bereich mit PeakForce sMIM™
  • das Dimension Icon und seine Software integrieren immer die neuesten AFM-Modi und -Verfahren von Buker
  • mit benutzerdefinierten programmierbaren Skripten teilautomatisierte Vermessungen und Analysen durchführen
Dimension Icon Interface
The intuitive graphical user interface provides immediate access to eight channels and extensive controller functions. Image data (left) show topography of triblock copolymer with 5Kx5K data points, 10μm scan size in closed-loop. Zoomed image (right) is a