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Customer Service, Handheld XRF Spectrometry

EDS, WDS, EBSD, REM Mikro-RFA und REM Mikro-CT

QUANTAX EBSD

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Das QUANTAX EBSD-System

QUANTAX Compact

QUANTAX Compact teaser

The easy-to-use EDS system

AMICS Software

Amics teaser

Mineral Liberation Analysis

e-FlashFS

Eflash FS teaser

The fast and sensitive EBSD detector

e-FlashHD

Eflash HD teaser

The high definition EBSD detector

XFlash® 6 | 10

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Der SDD mit der besten Auflösung

EM Analysatoren

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Materialcharakterisierung in Elektronmikroskopen

XFlash® 6 | 30

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Der hocheffiziente, vielseitige SDD

XFlash® 6 | 60

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Der großflächige SDD für die Nanoanalytik

XFlash® 6 | 100

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Größte Detektorfläche für niedrige Strahlströme

ESPRIT

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Die ideale Analyse-Software für EDS

ESPRIT Quant

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Automatische standardfreie Quantifizierung

ESPRIT EQuant

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Erweiterte Analyseoptionen

ESPRIT UQuant

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Benutzerdefinierte Quantifizierung

ESPRIT HSQuant

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Hybrid-Quantifizierung

ESPRIT CLQuant

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Cliff-Lorimer Quantifizierung

ESPRIT SpecMatch

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Spektren-Vergleichsfunktion

ESPRIT Map

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Schnelles qualitatives Mapping

ESPRIT QMap

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Quantitatives Mapping

ESPRIT HyperMap

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Hyperspektrales Mapping

ESPRIT AutoPhase

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Automatische Phasenanalytik

XFlash® 6T | 30

Icon XFlash® 6T | 30

Für konventionelle und Cs-korrigierte TEMs

XFlash® 6T | 60

Icon XFlash® 6T | 60

Großer Raumwinkel für Analytik im atomaren Bereich

ARGUS™ FSE/BSE-Detektorsystem

ARGUS TEaser Icon

Mikrostrukturbilder in Farbe

TKD am REM

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Die Transmissions-Kikuchi-Beugung

ESPRIT EBSD-Software

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Vielseitig und benutzerfreundlich

QUANTAX EDS für REM

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Leistungsfähigkeit für die Elektronenmikroskopie

XFlash® Silizium-Driftdetektortechnologie

Icon Teaser XFlash Technology

Webinare

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EDS, WDS, EBSD und REM Mikro-RFA

Nutzerschulungen

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EDS-Schulungen bei Bruker

ESPRIT DynamicS

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EBSD Pattern-Simulation

QUANTAX FlatQUAD

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Maximale Effizienz in EDS

ESPRIT 2 Quant

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