D8 DISCOVER, X-ray diffraction

Fortschrittliches Röntgendiffraktions- system für Anwendungen in der Materialforschung

Der D8 DISCOVER mit DAVINCI-Design erhöht die Benutzerfreundlichkeit mit Echtzeit-Entdeckung von Komponenten, Plug & Play-Funktionalität und vollständig integrierten zweidimensionalen XRD2-Funktionen. Diese einzigartigen Merkmale ermöglichen es dem Benutzer, problemlos zwischen allen Röntgendiffraktionsanwendungen in der Materialforschung einschließlich Reflektometrie, hochauflösender Diffraktion, Röntgenbeugung bei streifendem Einfall in einer Ebene (IP-GID, In-Plane Grazing Incidence Diffraction), Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS, Small Angle X-ray Scattering) sowie Resteigenspannungs- und Strukturuntersuchungen umzuschalten.

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Zweidimensionaler Detektor VÅNTEC-500

Für einen 2D-Detektor ist die Größe das wichtigste Merkmal. Ein großes Detektorfenster ermöglicht nicht nur eine schnellere Datenerfassung, sondern bietet auch Informationen, die bei 0D-, 1D- oder kleineren 2D-Detektoren einfach nicht zugänglich sind. Der Detektor VÅNTEC-500 verfügt über ein riesiges Fenster mit einem Durchmesser von 140 mm, das bis zu etwa 80° (2θ) und einen großen γ-Bereich abdeckt.

SNAP-LOCK-Röntgenoptik für werkzeuglosen Wechsel der Diffraktionsgeometrie

Die werkseitig justierte SNAP-LOCK-Röntgenoptik bietet echte Plug & Play-Funktionalität einschließlich einem automatischen und werkzeuglosen Wechsel der Diffraktionsgeometrie mit minimalem Benutzereingriff.

Ein Röntgenoptikmodul, ein Detektor oder jedes andere am Instrument montierte Zubehör registrieren sich selbst in Echtzeit mit ihren relevanten Parametern und analytischen Funktionen einschließlich einer leistungsstarken Erkennung möglicher Komponentenkonflikte. 

Schauen Sie sich unser Video zum D8 DISCOVER (XRD2) an

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