NANOSTAR, Small Angle X-ray Scattering System

Modulares Design für erstklassige Ergebnisse

Das NANOSTAR mit dem unvergleichlichen modularen Design ist ideal für die Bestimmung von Nanostrukturen von 1 nm bis rund 125 nm und nanostrukturierten Flächen durch SAXS, GISAXS und Nanographie.

Das spiegelabhängige Lochblenden-Kollimator-System erzeugt einen parallelen Röntgenstrahl mit hoher Intensität, sodass kurze Messzeiten erreicht werden. Gleichzeitig hält das Kollimatorsystem die ideale runde Strahlform aufrecht und ist hocheffizient bei der Hintergrundeliminierung, was sowohl die Analyse von sehr schwach streuenden Proben als auch von großen Strukturen ermöglicht.

Das NANOSTAR analysiert reine Proben-eigenschaften selbst bei nichtisotropen Probensystemen. Das modulare Design ermöglicht die Festlegung der Entfernung zwischen Detektor und Probe auf 11,5 mm bis 1070 mm. Somit wird die gesamte Bandbreite von SAXS bis WAXS abgedeckt.

Funktionen

  • Modulares Design für maximale Flexibilität
  • Brillante Röntgenquellen: IμS, TXS and METALJET
  • MONTEL-Optik mit austauschbarem Lochblenden-Kollimator-System für hohen Fluss/hohe Auflösung
  • Kollimatorsystem mit niedriger Hintergrundstrahlung, klassisch mit drei Lochblenden oder das neue SCATEX mit zwei Lochblenden
  • Große Probenkammer mit Platz für verschiedene Probenhalter
  • VÅNTEC-2000, großer 2D-Detektor mit echter Photon-Zählfunktion
  • Variable Entfernung zwischen Probe und Detektor für einen großen q-Bereich

Weitere Informationen

GISAXS mit NANOSTAR – eine Synchrotron-Methode im Labor PDF-Laborbericht

NANOSTAR – SAXS-(Small Angle X-ray Scattering-)Lösungen PDF-Broschüre

Weitere Informationen