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Espectrómetro ALPHA FT-IR

Del tamaño de un cuaderno de laboratorio, el espectrómetro FT-IR extremadamente compacto ALPHA desempeñará una función muy importante en su rutina diaria. La configuración plug & play y el software fácil de utilizar, en combinación con los módulos de muestreo QuickSnap™, garantizan el análisis FT-IR potente y fiable que espera de Bruker.

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Compactibilidad

El ALPHA le facilitará el siempre necesitado espacio en la poyata de su laboratorio. El tamaño reducido de ALPHA solo ocupa 22 cm x 30 cm. ALPHA también es ligero y solo pesa 7 kg.

Rendimiento sin renunciar a nada

El interferómetro ALPHA se basa en el diseño patentado RockSolid™ de Bruker Optics utilizado en nuestros espectrómetros de laboratorio y procesos sólidos. Eso significa que ALPHA ofrece el rendimiento y los resultados reproducibles que los usuarios esperan de un espectrómetro FT-IR de Bruker. El ALPHA también es insensible a las vibraciones, de modo que se puede colocar en prácticamente cualquier lugar, se puede trasladar y se puede estar inmediatamente operativo sin que resulte necesario realizar ninguna alineación. ALPHA garantiza una sensibilidad excelente así como reproducibilidad y estabilidad en el eje x.

Funcionalidad para análisis rutinarios

El ALPHA simplifica los análisis FT-IR como nunca se había conseguido hasta el momento. Con su funcionamiento plug & play, su configuración sencilla y su facilidad de uso, ALPHA aporta practicidad a su sistema de espectroscopia FT-IR. ALPHA ofrece todas las capacidades que espera lograr en un análisis rutinario. El software OPUS/Mentor intuitivo le guía en cada paso del proceso. El aprendizaje del software resulta sencillo, de modo que podrá dedicar su tiempo a los análisis FT-IR en lugar de aprender a utilizar el software.

Flexibilidad de muestreo

El ALPHA ofrece una flexibilidad de muestreo FT-IR completa. Los módulos de muestreo intercambiables del usuario QuickSnap™ permiten analizar prácticamente cualquier tipo de muestra (sólidos, líquidos o gases). Asimismo, también se dispone de accesorios de muestreo FT-IR de transmisión, reflexión total atenuada (ATR) y reflexión externa y difusa.

Patentes

Las tecnologías empleadas están protegidas por una o más de las patentes siguientes: DE 102004025448; DE 19940981; US 5923422; DE 19704598

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