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XFlash® 6T | 60

El SDD de gran ángulo sólido para análisis en TEM en la escala nanométrica e inferior

XFlash® 6T | 60

El chip de área activa de 60 mm2 montado en un dedo de dimensiones reducidas proporciona un gran ángulo sólido y un elevado ángulo de incidencia. Por ello, el XFlash® 6T | 60 es ideal para aplicaciones con un rendimiento de rayos X relativamente bajo, por ejemplo, para espectrometría de resolución atómica, experimentos en los que se debe guardar un eje de zona y por tanto no se puede inclinar la muestra, y muestras sensibles (por ejemplo, grafeno, muestras biológicas). El detector también proporciona muy buena resolución energética con 126 eV en Mn Kα.

En resumen, el XFlash® 6T | 60 ofrece las siguientes ventajas:

  • Buena resolución energética (126 eV en Mn Kα, 51 eV en C Kα y 60 eV en F Kα disponible)
  • Otra resolución disponible es 129 eV en Mn Kα
  • Tasas de impulsos extremadamente altas
  • Excelente rendimiento en elementos ligeros y en el rango energético bajo (rango de elementos Be - Am)
  • El fuelle acordeón es estándar
  • Sin sistemas de refrigeración que puedan producir vibraciones
  • Disponible inmediatamente después del encendido
  • Funcionamiento sin mantenimiento
  • Bajos costes operativos
  • Pequeñas dimensiones, dedo con tecnología de dimensiones reducidas incluido
  • Bajo peso
  • Versión sin ventana disponible a petición del usuario

Áreas de aplicación recomendadas para el XFlash® 6T | 60:

  • Aplicaciones con rendimiento de rayos X bajo en TEM y STEM, microscopía electrónica de aberración corregida incluida