Espectrómetros Micro-XRF

M4 TORNADO

Análisis químico elemental en sólidos, capas, partículas y líquidos

Configurable a sus necesidades

Máxima velocidad y precisión

<20
μm
Tamaño del punto
Haz de rayos X enfocado con lente policapilar
1
ms
Tiempo mínimo de permanencia por píxel
Mapeo con velocidad de platina de hasta 100 mm/s
12
Capas seleccionables
Los sistemas multicapa se pueden analizar utilizando el paquete opcional XMethod

Micro-XRF de alto rendimiento con velocidad y flexibilidad líderes en el mercado

El M4 TORNADO es la herramienta ideal para la caracterización de muestras utilizando fluorescencia de rayos X micro de punto pequeño. Sus mediciones proporcionan información sobre la composición y la distribución de elementos, incluso de debajo de la superficie. Este espectrómetro micro-XRF de Bruker está optimizado para análisis a alta velocidad de puntos, líneas y escaneos de área 2D (mapeo de elementos) de cualquier tipo de muestra; ya sea orgánica, inorgánica o líquida.

La excitación primaria de rayos X utiliza una lente policapilar que ofrece tamaños de punto pequeños y una alta intensidad de rayos X. El M4 TORNADO es configurable con una variedad de detectores XFlash® por deriva de silicio (SDD), ofreciendo un alto rendimiento sin comprometer la resolución energética.

Una de las opciones de configuración sobresalientes del M4 TORNADO es el tubo de rayos X adicional, que ofrece un material de ánodo diferente y un cambiador de colimador para alcanzar una capacidad analítica superior.

Otras opciones de configuración de última generación:

  • Purga de He para aumentar el rendimiento en elementos ligeros pero manteniendo la la presión atmosférica en la cámara
  • Platina intercambiable y soporte de muestra para capas finas y núcleos de perforación
  • Software XMethod para cuantificación con estándar, así como cálculo de grosor de capa
  • Software AMICS para análisis automatizado de minerales

 

¿Cómo puede el M4 TORNADO ayudar en sus análisis?

Disminución de los tiempos de medición. Trayectoria de excitación de rayos X optimizada, detectores de alto rendimiento, mapeo "sobre la marcha" con tiempos de permanencia en píxel de hasta 1 ms.

Análisis de muestras de hasta 7 kg. Gran cámara de vacío, libremente ajustable, vacío constante de hasta 2 mbar, purga automática de helio o nitrógeno para proteger las muestras.

Mapeo de áreas de hasta 190 x 160 mm². Grabación de hasta 40 Mio. de píxeles en una sola ejecución, almacenamiento de datos como HyperMap con información espectral completa, imagen óptica para cada píxel.

Cuantificación de espectros, escaneos de línea y mapas. Método de parámetros fundamentales configurable, paquete de software XMethod opcional para cuantificación basada en estándares o de capas, análisis de capas de mapas.

Procesamiento de datos. Potente paquete de software, extracción de espectros suma de objetos arbitrarios (elipses, rectángulos, polígonos), extracción de escaneos de línea, determinación de elementos presentes sólo en ubicaciones de medición únicas (MaximumPixelSpectrum), análisis de fase química (AutoPhase).

Aumento de la capacidad de análisis. Benefíciese de una amplia gama de configuraciones para satisfacer sus necesidades analíticas.

Descubra la amplia gama de muestras mico-XRF

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