D8 DISCOVER, X-ray diffraction

Sistema avanzado de difracción de rayos X para aplicaciones de investigación de materiales

El D8 DISCOVER con diseño DAVINCI incrementa la facilidad de uso con detección de componentes en tiempo real, la funcionalidad plug and play y capacidades XRD2 bidimensionales completamente integradas. Estas características exclusivas permiten al usuario conmutar fácilmente entre todas las aplicaciones de difracción de rayos X para la investigación de materiales, incluidos la reflectometría, la difracción de alta resolución, la difracción de incidencia rasante en el plano (IP-GID), la dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) y las investigaciones de tensión residual y de estructuras.

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Detector bidimensional VÅNTEC-500

En el caso de un detector bidimensional (2-D), el tamaño es la característica más importante. La ventana del detector de grandes dimensiones no solo permite agilizar la recopilación de datos, sino que también proporciona información que simplemente no es accesible con detectores 0-D, 1-D o 2-D más pequeños. El detector VÅNTEC-500 presenta una ventana enorme con un diámetro de 140 mm que cubre hasta unos 80° (2θ) y un rango γ grande.

Óptica de rayos X SNAP-LOCK para conmutación sin herramientas de la geometría de difracción

La óptica de rayos X SNAP-LOCK alineada de fábrica proporciona una verdadera funcionalidad plug and play que incluye conmutación automática y sin herramientas de la geometría de difracción con una intervención mínima del usuario.

Un módulo de óptica de rayos X, un detector o cualquier accesorio montado en el instrumento se registra automáticamente en tiempo real con sus parámetros y capacidades analíticas pertinentes que incluyen la detección potente de conflictos de componentes potenciales. 

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