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XRF Análisis multielemento para todo tipo de muestras, desde carbono hasta americio

El análisis elemental, más fácil que nunca

Con la Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de Energías (EDXRF) que incorpora el S2 PUMA tendrá todo lo que necesita para medir y monitorizar elementos en sus muestras, independientemente del tipo de industria o entorno en el que trabaje. La gran virtud del S2 PUMA LE es la amplia gama de elementos cubiertos por la técnica, desde elementos muy ligeros como el carbono, hasta elementos pesados como el americio.

Más información

Para más información, consulte nuestra nueva aplicación S2 PUMA.

Características:

  • Límites de detección, precisión y velocidad incomparables en EDXRF gracias a la Tecnología HighSense™
  • Excitación directa, trayecto del haz con acoplamiento muy cercano a la muestra
  • Tubo de rayos X con potencia de hasta 50 W y excitación de hasta 50 kV
  • SDD XFlash con una excelente resolución de energías
  • Pantalla táctil TouchControl™ disponible para operaciones analíticas de rutina de manera sencilla. Versión sin pantalla táctil para aquellos escenarios donde el instrumento es controlado de forma remota.
  • Configuración para Elementos Ligeros (LE), tubo de Rayos X con ventana delgada y detector de rayos X XFlash

S2 PUMA con HighSense – EDXRF de máximo rendimiento

HighSense™ es la clave del inigualable rendimiento analítico del S2 PUMA. El trayecto del haz de excitación directa del instrumento aprovecha al máximo los 50 vatios de potencia del tubo de rayos X.

La excitación óptima de todos los elementos de la muestra está garantizada con voltajes de hasta 50 kV. La elevada velocidad de conteo y el detector de deriva de silicio XFlash de alta resolución (SDD) mejoran aún más el rendimiento del instrumento y registran los espectros de las muestras en modo HD.

 

Pero eso no es todo. En todas las nuevas ópticas de los instrumentos de rayos X, las distancias entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector son aún más cortas que antes. Esto permite mejorar los límites de detección, aumentar la precisión y reducir los tiempos de medida.

 

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