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MLplus

Análisis de múltiples capas y láminas delgadas mediante XRF

El espesor de las capas y la composición química de muestras de múltiples capas puede determinarse fácilmente mediante el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF). Las muestras con capas se analizan directamente en los espectrómetros de rayos X dispersivos de longitud de onda (WDXRF) S4 PIONEER o S8 TIGER.

MLplus amplía SPECTRAplus para el análisis de muestras monocapa y multicapa con análisis de rayos X dispersivos de longitud de onda (WDXRF). Permite la determinación directa del espesor y la composición de las muestras de capas hasta varias capas atómicas (menos de 1nm) y hasta el rango µm o incluso mm.

MLplus usa un la aproximación por parámetros fundamentales para todos los cálculos. La determinación del espesor y la composición en MLplusse basa en la calibración sin estándar de SPECTRAplus, es decir, no se requieren estándares multicapa. Sin embargo, se puede usar cualquier estándar multicapa para optimizar los resultados.

 

MLplus se puede emplear para la evaluación automática tras cada medición individual una vez que se ha configurado el modelo. Gracias a esto, el análisis multicapa estará disponible para el control de proceso rutinario, p. ej. en la producción de vidrio con multicapas o aceros con recubrimientos.