Séminaire "Indentation et Rayage Instrumentés, Caractérisation Mécanique Multiéchelles, Etat de l'Art et Nouveautés"

Séminaire "Indentation et Rayage Instrumentés, Caractérisation Mécanique Multiéchelles, Etat de l'Art et Nouveautés"

25-26 avril 2018 | Rennes, France

Bruker et le Département Mécanique et Verres de l’Institut de Physique de Rennes (UMR CNRS-UR1 6251), par l’intermédiaire du Dr. Jean-Pierre Guin, vous invitons au Séminaire "Indentation et rayage instrumentés, caractérisation mécanique multi-échelles, état de l’art et nouveautés".

Le séminaire fera le point sur les différentes techniques disponibles de caractérisation mécanique par contact, allant de l'échelle micrométrique à l'ultra nénométrique.

  • Le micro et nano rayage (travaux pratiques sur le Tribolab de Bruker) et les notions de mécaniques associées : Usure, frottement… 

  • l’indentation instrumentée, le nano rayage (travaux pratiques sur l’Hysitron TI950 équipé du contrôleur Perfomech II) : cartographies ultra rapides des propriétés mécaniques : dureté, élasticité…

  • Les différentes approches pour les propriétés mécaniques en microscopie de force atomique (AFM) (travaux pratiques sur Dimension Icon de Bruker) : Cartographie rapide des propriétés mécaniques : module de perte, module de stockage, déformation, adhésion…

 

Inscription

Contact événement

Le Programme

Agenda

Le séminaire se déroulera sur 2 jours. Vous pouvez participer à l’ensemble des deux jours ou à la journée de votre choix.

Mercredi 25 avril : le rayage et la micro/ nano indentation instrumentée

  • Matinée avec des Présentations scientifiques et techniques (intervenants à déterminer)

  • Après-midi avec des TP sur le Tribolab configuré en instrument de rayage, le nano-indenteur modèle Hysitron TI 950 et une découverte de l’AFM

 

Jeudi 26 avril : La nano indentation en mode dynamique et en cartographie/ mapping ultra rapide ainsi que l’AFM et l’imagerie de propriétés mécaniques en Force Volume, Peak Force QNM et Contact Résonance

  • Matinée avec des Présentations scientifiques et techniques (intervenants à déterminer)

  • Après-midi avec des TP sur le nano indenteur modèle Hysitron TI 950 et la découverte des modes XPM (Xtrem property mapping) et l’AFM modèle Dimension ICON