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Les propriétés des matériaux

Bruker fournit un relevé cartographique rapide et à forte résolution des propriétés des matériaux en surface afin d'améliorer le développement de ces matériaux.

Le relevé cartographique, à l'échelle nanométrique, des propriétés de matériaux offre plusieurs avantages importants lors de la mise au point de nouveaux matériaux. Les cartes d'adhérence ou de modules permettent d'identifier les composants dans les composites et d'analyser les interfaces qui les séparent. Les composants deviennent de plus en plus petits et, de fait, les propriétés au niveau des interfaces prennent de plus en plus d'importance en ce qui concerne les propriétés macroscopiques des matériaux. Lors du développement de films minces, ces relevés cartographiques peuvent fournir des informations sur l'uniformité et d'autres propriétés.

Les microscopes (AFM) à force atomique de Bruker offrent des moyens avancés de mesure des propriétés des matériaux de surface. La panoplie d'options disponibles englobe les cartes quantitatives rapides à forte résolution du module élastique, de l'adhérence, de la dissipation et de la déformation. Ainsi que des mesures qui dépendent de la durée et la caractérisation en matière de durée et d'élasticité. Des logiciels sophistiqués permettent de réaliser des analyses faciles, de visualiser les données et de créer des rapports, le tout ayant pour but d'optimiser la productivité des clients.