Analyse élémentaire et structurelle par rayons X

Bruker développe et fabrique des instruments pour l’analyse élémentaire et structurelle dans la recherche sur les matériaux, les sciences du vivant et le contrôle qualité. Nos solutions couvrent la diffraction des rayons X (XRD) sensible à la surface et aux matériaux grossiers, la cristallographie biologique et chimique, la fluorescence à rayons X (XRF) à dispersion d'énergie et de longueur d’onde, la microscopie des rayons X 3D (XRM), la spectroscopie d'émissions optiques (OES) et l’analyse des gaz de fusion et de combustion.

Les systèmes de Bruker mettent l’accent sur la modularité et la flexibilité. Nous proposons la plus large variété existante de sources, d’optiques, d’environnements d'échantillons et de détecteurs ainsi que des conseils d’expert sur la configuration du système optimal. Le système du niveau d'entrée peut être configuré ou mis à jour pour satisfaire aux exigences de changement.

Nos solutions sont simples à utiliser à l’aide du TouchControl et de l’automatisation à un bouton. Nous construisons des instruments robustes et compacts pour des environnements difficiles. La formation professionnelle et le service dans le monde entier sont en place pour soutenir nos clients.