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Les spectromètres VERTEX 70 et VERTEX 70v sont adaptés pour des demandes d’applications de recherche nécessitant une sensibilité très élevée, une stabilité importante et une grande résolution temporelle.

Les gammes spectrales disponible jusqu’au THz / FIR permettent de répondre  aux applications les plus spécifiques pour la recherche industrielle.

Les systèmes VERTEX 70 / 70V sont polyvalents et peuvent être combinés avec des accessoires dédiés, ce qui apporte une solution pour chaque demande spécifique dans le domaine de la spectroscopie IRTF.

Recherche & développement

  • Technologie Step Scan et Continuous Scan pour des mesures de résolution temporelle et pour la spectroscopie de modulation en amplitude (AM) et de phase (PM) (Step Scan / Rapid Scan / TRS Interleaved)
  • Spectroscopie IRTF sous ultra vide
  • Electrochimie en spectroscopie IRTF pour des études in situ de surface d'électrodes et d'électrolytes
  • Etude de protéines dans l'eau (CONFOCHECK)

Pharma

  • Détermination de la configuration absolue des molécules (VCD)
  • Caractérisation de la stabilité des principes actifs et des composés volatils issus de l'analyse thermique (TGA-IRTF)
  • Différentiation des formes polymorphes des principes actifs à l'aide du lointain infrarouge (VERTEX FM)

Polymères et chimie

  • Identification des charges inorganiques dans les polymères à l'aide du lointain infrarouge VERTEX FM
  • Etude dynamique et rhéo-optique des polymères
  • Détermination des composés volatils et caractérisation des processus de dégradation par l'analyse thermique (TGA-FTIR)
  • Suivi de réaction et contrôle de réaction (fibre optique MIR)
  • Identification des charges minérales inorganiques et pigments

Analyse de surface

  • Détection et caractérisation de monocouches et films minces
  • Analyse de surface avec la modulation de polarisation (PM-IRRAS)

Science des matériaux

  • Caractérisation des matériaux optiques et hautement réflectif (fenêtres, miroirs)
  • Etude de matériaux absorbants et mesure de profil à l'aide de la spectroscopie photo-acoustique (PAS)
  • Caractérisation de l'émittance des matériaux

Semiconducteurs

  • Détermination de la composition de carbone et oxygène dans les wafers de silicium pour du contrôle-qualité
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