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Les spectromètres VERTEX 80 et VERTEX 80v sont les instruments de très haute qualité dans la série VERTEX. La conception innovante contribue à des bancs optiques purgeable ou sous vide très puissants. Ils peuvent analyser la gamme spectrale la plus large sur le marché de la spectroscopie de la région des UV/VIS (50000 cm-1) au FIR/THz (5 cm-1) de haute résolution spectrale et temporelle avec une flexibilité inégalée.

La solution VERTEX 80/80v apporte une réponse optimale et conforme aux exigences de la recherche ultime.

Recherche & développement

  • Technologie Step-Scan et Continuous Scan pour de la spectroscopie de modulation en amplitude/phase
  • Rapid Scan, interleaved et Step Scan pour des expériences à haute résolution temporelle (Step Scan / Rapid Scan / TRS Interleaved)
  • Caractérisation de l'ordre du réseau de matériau microscopique, tels que les métamatériaux
  • Analyse de gaz avec la spectroscopie haute résolution supérieure à 0.06 cm-1
  • Instrumentation pour spectromètre IRTF sous vide implanté sur ligne synchrotron
  • Méthode Stop-Flow pour des expériences de catalyse enzymatique
  • Adaptation externe pour des mesures dans des réacteurs sous ultravide
  • Electrochimie en spectroscopie IRTF pour des études in situ de surface d'électrodes et d'électrolytes

Pharma

  • Détermination de la configuration absolue des molécules (VCD)
  • Caractérisation de la stabilité des principes actifs et des composés volatils issus de l'analyse thermique (TGA-IRTF)
  • Différentiation des formes polymorphes des principes actifs à l'aide du lointain infrarouge (VERTEX FM)

Polymères et chimie

  • Identification des charges inorganiques dans les polymères à l'aide du lointain infrarouge
  • Etude dynamique et rhéo-optique des polymères
  • Détermination des composés volatils et caractérisation des processus de dégradation par l'analyse thermique (TGA-FTIR)
  • Suivi de réaction et contrôle de réaction (fibre optique MIR)
  • Identification des charges minérales inorganiques et pigments

Analyse de surface

  • Détection et caractérisation de monocouches et films minces
  • Analyse de surface avec la modulation de polarisation (PM-IRRAS)

Science des matériaux

  • Caractérisation des matériaux optiques et hautement réflectif (fenêtres, miroirs)
  • Etude de matériaux absorbants et mesure de profil à l'aide de la spectroscopie photo-acoustique (PAS)
  • Caractérisation de l'émittance des matériaux

Semiconducteurs

  • Détermination de la composition de carbone et oxygène dans les wafers de silicium
  • Mesure à basse température en transmittance et photoluminescence (PL) des impuretés superficielles en contrôle-qualité