Dimension Icon AFM-Raman 527x245px

Brochures et fiches techniques

Dimension Icon Atomic Force Microscope - Fiche technique 1.0MB
The Dimension Icon-IRIS offre la possibilité d'intégrer les techniques complémentaires de microscopie à force atomique et de microscopie Raman, fournissant des informations critiques à la fois sur la topographie et la composition chimique d'un échantillon.

AFM-Raman - Brochure 2.7MB
Bruker a combiné les techniques AFM et Raman les plus avancées dans des solutions de recherche puissantes et parfaitement intégrées.

• Worldwide Service and Support - Brochure 2.7MB
Notre équipe hautement qualifiée d'ingénieurs de support, de scientifiques en applications et d'experts en la matière est entièrement dédiée à l'optimisation de votre productivité avec des services et des mises à niveau du système, ainsi que du support et de la formation aux applications dans de très nombreuses disciplines.

Notes d'application

• Avances en force atomique combinée et Raman - AN136 5.1MB
Cette note d'application correspond à la fois aux informations complémentaires obtenues lors de la combinaison de la spectroscopie AFM et Raman et de la manière dont un chercheur ayant accès à un système combiné peut bénéficier des informations supplémentaires disponibles.


• AFM et Raman TERS - Imagerie corrélée et pointe améliorée Raman Scattering 2,8 Mo
L'instrumentation AFM et Raman co-localisée permet aux chercheurs d'interroger des échantillons à l'aide de techniques de sonde de balayage et de spectroscopie optique, en fournissant des informations détaillées sur les propriétés à l'échelle nanométrique et la composition. Les expériences AFM-Raman limitées par la diffraction sont simples, de même que l'interprétation des données. TERS fournit des informations chimiques sur l'échelle nanométrique. Les expériences de TERS sont simples à exécuter mais peuvent nécessiter une attention particulière à l'interaction de l'échantillon-pointe dans le champ proche optique pour l'interprétation des données.