NANOSTAR, Small Angle X-ray Scattering System

Conception modulaire pour des résultats de première classe

Le NANOSTAR avec sa modularité incomparable est l'outil idéal pour la caractérisation des nanostructures allant de 1 nm à environ 125 nm et des surfaces nanostructurées par SAXS, GISAXS et Nanographie.

Le système de collimation à diaphragmes, conditionné par le miroir, fournit un faisceau de rayons X parallèle, très intense, de sorte que des temps de mesure courts peuvent être atteints. En même temps, le système de collimation maintient la forme de faisceau circulaire idéale et est très efficace dans l'élimination du bruit de fond, ce qui permet d'analyser des échantillons à très faible diffusion ainsi que de grandes structures.

En fait, le NANOSTAR analyse les propriétés pures des échantillons, même pour les systèmes d'échantillons non-isotropes. La conception modulaire permet de régler la distance détecteur/échantillon entre 11,5 mm et 1070 mm. De ce fait, la gamme entière de SAXS à WAXS peut être couverte.

Caractéristiques

  • Configuration modulaire pour la plus grande flexibilité
  • Sources de rayons X brillantes: IμS, TXS et METALJET
  • Optiques MONTEL avec système de collimation de trous échangeable pour haut flux/ haute résolution
  • Système de collimation à bas bruit de fond, en utilisant une configuration traditionnelle à trois diaphragmes ou une configuration avec le nouveau SCATEX à deux diaphragmes
  • Grande chambre d'échantillons s´accommodant d´un grande nombre de porte-échantillons
  • VÅNTEC-2000, grand détecteur 2D avec véritable capacité de comptage de photons
  • Distance variable échantillon/détecteur couvrant une vaste gamme en q

Plus d'infos

GISAXS with NANOSTAR – a Synchrotron Method - rapport de laboratoire PDF

NANOSTAR – Small Angle X-ray Scattering Solutions - Brochure PDF