software, X-ray fluorescence, SPECTRA

SPECTRAplus, SPECTRA.ELEMENTS et SPECTRA EDX

Analyse par fluorescence des rayons X (XRF), la solution facile

Une facilité d’utilisation au quotidien, un support analytique intelligent maximal, une haute flexibilité, même pour les applications les plus exigeantes : l’analyse par fluorescence des rayons X (XRF) haute performance devient facile avec SPECTRAplus, SPECTRA.ELEMENTS et SPECTRA EDX. Ces suites logicielles complètes pour l‘analyse qualitative, sans étalons et quantitative offrent tous les avantages d’utilisation d’un logiciel moderne, du Pointer-Cliquer au vrai travail multi-tâches. L'aspect standardisé ainsi que des fichiers d'aide complets facilitent une utilisation immédiate: un fonctionnement simple et rapide avec une formation nécessaire minimale.

Le « Daily-Check-Routine » intégré de SPECTRAplus, SPECTRA.ELEMENTS et SPECTRA EDX permet des contrôles périodiques simples des instruments conformes aux BPL (Bonnes pratiques de laboratoire).

Analyse sans étalons par fluorescence des rayons X (XRF) – Totalement intégrée pour un support analytique maximal

L‘analyse sans étalons – principal avantage de l'analyse par fluorescence des rayons X (XRF) – permet une détermination rapide et facile de la composition chimique sans effectuer d‘étalonnage. Grâce aux corrections de matrice basées sur les alphas variables, chaque type d'échantillon peut être analysé avec des paramètres de mesure optimisés pour la composition chimique, peu importe le type de préparation d'échantillons utilisée.

 

L'analyse sans étalons avec SPECTRAplus, SPECTRA.ELEMENTS et SPECTRA EDX est flexible: selon l'objectif analytique, elle permet une analyse rapide avec un mode balayage rapide ou une analyse plus précise en vue d‘une évaluation interactive ultérieure.

 

Dans SPECTRAplus, SPECTRA.ELEMENTS et SPECTRA EDX, l’étalonnage sans étalons est complètement intégré pour un support analytique maximal : des conditions de mesure optimisées sont fournies pour chaque élément, des superpositions de raie sont proposées et des facteurs de correction de superposition sont disponibles. L'avantage majeur est que les paramètres d’étalonnage sans étalons peuvent être intégrés dans des étalonnages spécifiques utilisateur afin d'étendre des méthodes dédiées pour des éléments pour lesquels aucun étalon n'est disponible : une flexibilité maximale.

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