solution, X-ray fluorescence, METAL-QUANT, GEO-QUANT, CEMENT-QUANT, PETRO-QUANT, ROHS-QUANT, QUANT-EXPRESS

MLplus

Analyse multicouches et couches minces par XRF

L'épaisseur des couches et la composition chimique des échantillons multicouches peuvent facilement être déterminées avec l'analyse par fluorescence des rayons X (XRF). Les échantillons présentant des couches sont directement analysés avec les spectromètres par fluorescence de rayons X à dispersion de longueur d'ondes (WDXRF) S4 PIONEER ou S8 TIGER.

MLplus s'ajoute à SPECTRApluspour l'analyse d'échantillons à une seule couche et multicouches par fluorescence à rayons X à dispersion de longueur d'ondes (WDXRF). Il permet la détermination directe de l'épaisseur et de la composition d'échantillons à couches d’une épaisseur de plusieurs couches atomiques (moins de 1 nm) à une épaisseur de l’ordre du µm ou même mm.

MLplus utilise une approche basée sur les paramètres fondamentaux pour tous les calculs. La détermination de l'épaisseur et de la composition dans MLplus est basée sur l’étalonnage sans étalons de SPECTRAplus, ce qui signifie qu‘aucun étalon multicouche spécifique n'est nécessaire. Néanmoins, tout étalon multicouche éventuellement disponible peut être utilisé pour optimiser les résultats.

Une fois qu’un modèle a été créé, MLplus peut être utilisé pour évaluer automatiquement chaque mesure. Ceci rend l'analyse multicouche utilisable en contrôle des processus de routine, notamment dans la production de verre feuilleté ou d'acier revêtu.