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触媒モニタリング

新たなアメリカ薬局方(USP)およびEU薬局方の規制に従った触媒元素のモニタリングは、新しいAPIの研究中に重要となる作業です。

全反射蛍光X線(TXRF)分析は、最新式のラボインフラを必要としない、高速でコスト効率の良い分析方法です。

医薬品有効成分(API)の開発および製造中には、Pt、Pd、Rh、Vおよびその他の金属などの金属触媒がしばしば使用されます。新しい規制(USP 232、233、ICH Q3D)では、最終医薬品にこれらの金属が残存しないよう厳格に要求されており、許容濃度限度が明確に定義されています。製造元は最新の分析技術を導入し、金属汚染物を定期的に管理する必要があります。

TXRF分光計S4 T-STARでは、金属触媒の管理における検出限界が最も低くなっています。新たに設計された薬剤のごく少量であっても正確に定量化することができます。サンプル調製を素早く実施した後に分析を開始することができ、時間がかかる毎日のキャリブレーションをすることなく元素汚染が特定されます。自動による品質管理手順により、毎日24時間体制での運用中も最高のデータ品質を保証します。S4 T-STARは、ガス、媒体、あるいは最新のラボインフラを必要としない小型のプラグアンドプレイ式システムです。運用コストはごくわずかで、ユーザーに基本的なスキルがあれば十分です。