INVENIO

INVENIOは、日常的な品質管理から高度な研究開発までの広範な目的のために設計されています。生産性および測定精度を重視する場合や、幅広い規制へ準拠が必要な場合など、すべての面においてINVENIO はお客様をサポートします。

当社の技術革新によるメリット

  • 新たに設計されたビームパスが高いシグナルノイズ比を実現
  • 一体型のタッチパネル PC による簡易的かつ効率的な分析(オプション)
  • 第 2 透過試料室を設けることで 2 つの 測定法を並行して使用可能(Transit™)
  • 新規 SoC エレクトロニクスが分光精度と低エネルギー消費を実現
  • 独自の Bruker FM により中赤外 から遠赤外領域までの広帯域スペクトルを一度に測定
  • MultiTect™ テクノロジーにより 5 台の検出器を搭載でき、最大 7 台の内蔵検出器を利用可能
  • 遠赤外 から 紫外/可視領域 までの測定範囲の拡張、及び、時間分解測定への拡張が可能

さまざまな要求に対応する INVENIO

INVENIOは、お客様のさまざまなアプリケーションをサポートします。また、新たな分析ニーズが必要とされる場合も幅広く対応し、日常的な分析タスクに必要な強固な基盤となります。

優れた感度

最先端のSoCエレクトロニクスにより制御される革新的で効率的な光路設計と高精度の光学系により、INVENIOは最高性能を提供し、わずかなスペクトルの違いも明確にとらえることができます。

パワフルなソフトウェア

IR 分析における最もパワフルなソフトウェアソリューションの 1 つであるOPUSは、測定手順を簡単にし、FT-IRの初心者からエキスパートまでをサポートします。幅広いメソッド作成ツール、および、評価のための幅広い解析機能を提供します。

バリデーション環境へ対応

INVENIO は、規制対象となる医薬品ラボにおける機器のバリデーションに対応するために、完全自動化された PQ(性能適格性評価)および OQ(運用適格性評価)ルーチンを用意しています。

実績ある品質

ブルカーは、耐久性の高いハウジングから パーマネントアライメントのRockSolid™ 干渉計まで、あらゆるコンポーネントに最高の材料のみを使用しています。INVENIO は耐久性に優れ、長期にわたり安定した使用が可能です。

幅広い分析法

INVENIO はほぼ全ての試料に対応しており、サンプリングアクセサリの切り替えも迅速に行うことができます。さらに、第2透過試料室を設けることにより、2つの実験系を並行して使用することができます。

無限の拡張性

  • 装置導入後のアップグレード、スペクトル範囲の拡張
  • ステップスキャン、ラピッドスキャン、インターリーブ TRS
  • 遠赤外から紫外/可視領域までのすべてのレンジを網羅
  • アクセサリ、検出器、ビームスプリッターを迅速に交換
  • 外部モジュールのTGAや赤外顕微鏡、発光分析などの拡張
  • FT-ラマンモジュールによる分析手法の拡張
  • GMP、GLP、21 CFR part 11 に準拠

操作手順の簡易化

常に最適な測定パラメータを確保するために、中心となるすべてのデバイスコンポーネントは電子コード化されています。さらに、オプションの一体型タッチ PC はきわめて直感的に使用でき、最先端の接続機能を備えています。

本製品に使用されている技術は、以下の特許により保護されています。US 7034944

 

 

INVENIO Grafik