VERTEX_80v-Kopie.jpg

VERTEX 80 ならびにVERTEX 80v は、最先端のアプリケーションに求められる、究極の分析環境を提供します。革新的な設計により、最高レベルのパージ光学系、乾燥密閉光学系、真空光学系を実現しています。この高性能光学系により、紫外/可視 (50000 cm-1) から遠赤外/テラヘルツ領域 (5 cm-1) までカバーすることも可能です。VERTEX 80/80v システムは、ハイエンドリサーチの各種アプリケーションに対応する、高い柔軟性と圧倒的な分光性能を提供します。

研究開発

  • 高性能Step Scan 機能による時間分解測定および位相分解測定オプション (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • メタマテリアルの同定
  • ガス分析に適する、0.06 cm-1 以上の最高分解能
  • 真空型FT-IR ビームライン取付用アクセサリ
  • 酵素触媒実験用、ストップトフロー法
  • 超真空測定用試料室接続機構
  • 表面電極および電解質のin-situ 分析

製薬

  • 分子構造解析 (VCD)
  • 熱分析を用いた安定性および製剤成分の解析 (TGA-FT-IR)
  • 遠赤外領域における製薬原料の多形態同定 (VERTEX FM)

ポリマー・化学

  • 遠赤外領域における、ポリマー中の無機フィラー同定 (VERTEX FM)
  • 熱分析を用いた、揮発性物質の同定と分解プロセスの特定 (TGA-FTIR)
  • リアクションモニタリングならびにリアクションコントロール (中赤外領域ファイバープローブ)
  • 無機鉱物および含量の同定

表面分析

  • 単分子膜など薄膜の同定・解析
  • 極性変調を用いた表面分析 (PM-IRRAS)

材料科学

  • 光学性および高反射性物質の同定 (窓、鏡など)
  • PAS を用いた暗色物質および深さプロファイル解析
  • 物質の放射特性分析 

半導体

  • シリコンウェハー中の酸素・炭素物質同定
  • 品質管理時の不純物における低温NIRフォトルミネッセンス分析