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ハイエンドリサーチFT-IR VERTEX 80/80v

VERTEX 80 シリーズは、ブルカー独自の技術であるアクティブアライメント機能を搭載した超高性能UltraScan™干渉計を装備しています。ステップスキャンや超高速ラピッドスキャンを可能とする高精度エアベアリング式リニアスキャナーと効率的な設計の光学系により、優れた分光性能を保証します。また特許技術であるDigiTect™機構により、検出信号ラインへの外部からのノイズ混入を防ぎ、最高の感度と安定性を同時に実現しています。DigiTect™機構は、ユーザーによる検出器の交換作業も容易にします。

真空光学系を採用したVERTEX 80v では、大気中の水蒸気や二酸化炭素などによる妨害吸収を排除し、さらに高度な研究に対応します。

スペクトルレンジ拡張

VERTEX 80/80v は、オプションで遠赤外/テラヘルツから近赤外、可視-紫外域までカバーすることが可能です。プリアラインされた光学部品とUltraScan™干渉計のアクティブアライメント機構によって、スペクトルレンジの変更や維持が簡単に行えるようになります。

柔軟・効率設計

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効率的な光学レイアウトと拡張性の高いデザインもVERTEX 80/80v の特徴の一つです。 分光器外部に2 つの検出器を同時に接続できるという柔軟性の高い設計で、あらゆる研究ニーズに対応します。たとえばヘリウム冷却型ボロメータ検出器とホットエレクトロン検出器を同時に一台の分光器に接続することも可能です。

新機能:VERTEX FM

光学部品を切り替えることなく、中赤外と遠赤外/テラヘルツ領域の同時測定が可能になりました。特に半導体と無機物質の研究開発においては、新しい中赤外ビームスプリッターが1 回の測定で約900 cm-1 から約 5 cm-1 まで、ならびに中赤外から遠赤外/テラヘルツ領域までカバーするので最適です。

 

 

 

高い波数分解能

VERTEX 80 とVERTEX 80v の標準的な構成において0.2cm-1(アポダイズド)のスペクトル分解能を提供します。この分解能は、研究対象となるほとんどのサンプルに対して十分な値ですが、 さらに高い波数分解能を必要とする極低温におけるサンプル測定や、結晶性半導体材料の構造解析、または低圧ガスの測定に対しては、最高分解能を市販のベンチトップ型FT-IR としては最高の0.06cm-1 に拡張することが可能です(オプション)。可視スペクトル領域における分解能力300,000:1 以上という値が、その高い性能を示しています(分解能力=測定波数 v / 実スペクトル分解能 Δv)。

優れた拡張性

革新的な光学設計により、最も柔軟性に富んだ拡張性に優れる研究開発用FT-IRを完成させました。とくにVERTEX 80v の真空光学系では、全てのスペクトル領域において最高の感度を得ることが出来ます。分光器内部を真空状態にすることで、大気中の水蒸気やCO2 等による赤外吸収に妨害されることなく、微弱なスペクトル信号の検出を可能とします。例えば、ナノサイエンス研究の分野において、10-3 以下の単分子層の薄膜試料などにおいて、真空型FT-IR が威力を発揮します。また、柔軟性に関しての制限もほとんどありません。分光器の右側面、前面、および左側面に合計5 つの光出射ポートと、分光器背面と右側面にそれぞれ入射ポートを用意。例えば、シンクロトロン光源を背面から入射させ、右側面に PMA50 偏光変調測定用アクセサリーを、前面右手の出射ポートに光ファイバーカップリングを、前面左手にボロメータ検知器を、 左側面に赤外顕微鏡アクセサリHYPERION を同時に接続するといった多目的システムの構築も可能です。

BRAIN (ブルカーAIネットワーク機能)

BRAIN に含まれるAAR およびACR 機能がそれぞれ分光器に装着されたサンプリングアクセサリや光学部品を自動認識。さらにこれらの組み合わせをもとに測定パラメータのチェックや設定を自動的に行います。これにより、システムをより簡単に、より正確に稼働させることが可能です。加えて、BRAIN は装着されたコンポーネント類の状態をリアルタイムでモニタしていますので、日常的なシステムの診断とメンテナンスを簡便にしています。BRAIN は、システムを統合的なソフトウェア機能として確実に動作します。ブルカーは、リサーチシステムにおいても使い易さと操作の確実性を両立しています。

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製品に使用されている技術は、次の特許により保護されています:  US 7034944; US 5923422

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