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HTS-XT (High Throughput Screening eXTension) は、ブルカー・オプティクスのFT-IR 装置を用いた、大量サンプルのスクリーニングを可能にするマイクロプレートリーダアクセサリです。高機能マイクロプレートリーダモジュールと OPUS ソフトウェアによる全自動化機能により、FT-IR による24 時間スクリーニングが可能になりました。様々な種類の試料に適用することが可能なため、アプリケーション分野の拡大が期待できます。

使用するサンプルは 1 ポジションあたり 1-20 µl 程度です(サンプルの形態や濃度、測定手法等にあわせて調整する必要があります)。 測定には透過あるいは拡散反射モードが用いられ、96、384、1536 穴のウェルプレート に対応します。

ウェルプレートの制御および各ポジションでのスペクトル測定が完全に自動化されています。測定ポジションを任意に設定することも可能です。拡散反射モードによる測定では、サンプル表面からの鏡面反射成分を遮蔽する光学系となっているため、より精度の高い分析が可能となっています。

HTS-XT はウェルプレートの制御からスペクトル測定および解析まで、専用設計された OPUS/LAB ソフトウェアで制御され、膨大な数のサンプルのスクリーニングを迅速かつ簡単に行うことができます。さらに、オプションで PbS または InGaAs 検出器を搭載することができ、分析に用いるスペクトル領域を標準の中赤外から近赤外に変更することが可能です。

従来の可視・紫外、あるいは蛍光分光法によるマイクロプレートリーダでは、多くの場合、サンプルに合わせてマーカーを使用し、間接的に得られる発色や蛍光の強度をもとに分析します。これに対して、FT-IR 分光法では、得られるスペクトルそのものが豊富な化学情報をもたらすため、構成成分や分子構造の違いをもとにした、これまでに無い高精度なスクリーニング検査が可能となります。

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