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プロセス用近赤外分光計

革新的技術や洗練された試験装置などが対象となる“R&D 100” を受賞したMATRIX-F は、各種プロセスの反応容器やパイプライン中の試料を直接測定でき、より詳細なプロセスの理解と制御・管理を可能にします。

  • 正確なインライン測定結果を数秒で出力
  • 1 回の測定で複数の成分を同時分析
  • 非破壊分析
  • 6 ポートマルチプレクサー内蔵(オプション)
  • 容易な装置間の分析メソッド移設
  • 堅牢設計
  • イーサネット接続と各種工業用標準通信プロトコルに対応

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リアルタイムFT-NIR

近赤外装置によるリアルタイム・オンライン分析には多くの利点があります。MATRIX-F と光ファイバーテクノロジーを使用することで、例えばスペクトロメーター本体を分析室に設置し、防爆区域など立ち入りが困難な測定ポイントには、耐環境性能を強化した工業用光ファイバープローブでアクセスすることが可能になります。

これにより、従来のように装置を激しい温度変化や埃・汚れなどが多い過酷な環境に置く必要はありません。ブルカー・オプティクスは、様々なオンライン分析に対応する、一連のソリューションを提供します。

多様な測定オプション

MATRIX-F システムは、光ファイバーテクノロジーにより、1 台のスペクトロメータで物質の測定を接触法、あるいは非接触法で可能にする唯一の近赤外分光計です。

  • 光ファイバープローブ: 測定部に取り付けるプローブは、一般的な拡散反射プローブ、透過反射プローブ、様々な光路長の透過プローブ、さらにはプロセスフローセルやパイロットプラントアセンブリー等からお選び頂けます。その材質についても、ステンレス鋼やハステロイなど、様々なニーズに対応可能です。
  • 非接触測定用ヘッド: 非接触測定用ヘッドには受光部に加えタングステンランプ光源が装備され、試料に対して直接プローブ光を照射するとともに、その反射光を効率的に集光します。集光された近赤外光は、光ファイバーケーブルを経由してMATRIX-F に導かれます。これにより非接触かつ遠隔での測定が可能となり、様々な新しい用途が広がります。さらに、1 台のMATRIX-F emission またはMATRIX-F duplex に、最大6 台のヘッドを同時接続することも可能です。