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ナノ表面計測

Surface Interactions, Functionality and Precise Topography

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AFM 原子間力顕微鏡
触針式プロファイリングシステム
3次元白色光干渉型顕微鏡
ナノインデンテーションシステム
摩擦摩耗試験機
ナノスケール赤外分光分析
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表面計測システムのリーディングカンパニー

ブルカー表面計測事業部では、日々の研究開発、品質改善、生産管理をサポートする表面解析・分析機器を幅広いラインナップにて提供し続けるナノ表面計測装置のリーディングカンパニーです。 ブルカーの2次元、3次元による高性能表面プロファイラーは、開発、QA / QC部門をはじめ表面測定に必要な信頼性の高いデータを提供します。また、BrukerのAFMは世界中の科学者に多く使用され、様々な研究向けの材料や生物システムへ新たな発見による進化と革新をもたらします。さらに、摩擦摩耗試験機およびナノインデンテーションシステムは、材料開発や、トライボロジー研究のための実用的なデータを提供します。

ブルカーは、幅広いラインナップにより、お客様の表面測定や表面分析のサンプル材料、研究用途などの様々なアプリ―ションに合った、最適なソリューションをお客様に提供します。

 

 

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