テストと測定

3次元光学プロファイラー

3D表面測定および検査における世界的リーダー
Overview

高速・非接触 3D光学式プロファイラー

ブルカーは白色干渉法を利用した表面形状計測機器のパイオニアであり、精密デバイスから車載部品等の大型試料に至るまでの幅広いサイズのサンプルに対応した 非接触3次元形状測定・分析を提供しています。最新モデルとなるContourシリーズは、10世代に渡る独自のWyko®テクノロジーの進歩の集大成であり、他の計測機器では困難な環境下での高精度で高再現性な3次元表面測定を提供しています。

 

Bruker is the industry-leading provider of 3D surface measurement and inspection solutions, offering systems for fast, reliable, and easy-to-use non-contact analyses with best-in-class accuracy on samples ranging in size from microscopic MEMS to entire engine blocks. They provide researchers and engineers in R&D, manufacturing, and quality control the industry-leading sensitivity and stability necessary for precision 3D surface measurements in applications and environments that are challenging for other metrology systems.

 

Based on ten generations of proprietary Wyko® technology and Bruker advances, our metrology tools have a proven record of supporting leading-edge research and discoveries in labs and production environments around the world.

製品

38年以上にわたる光学式計測器の開発実績

1982年に世界で初めて商品化されたNCP1000(後のTOPO-2D/3Dシステム)は、当時多くの人々を驚嘆させ、その後続々と開発された製品は世界中のさまざまな業界に提供してきました。こうした実績と技術を終結させて開発したのが、Contourシリーズです。
 ブルカーの白色光干渉型顕微鏡は、業界トップのサービスとサポート体制を備え、研究・開発から製造現場での品質・行程管理に至る 様々な用途で運用されています。自動車/航空宇宙、高輝度LED、太陽電池、半導体、医療機器などの各市場における高度な精密機械加工品評価の専門的アプリケーションに応え、お客様の予算と目的に合ったソリューションを提供しています。  

Applications

Surface-Independent Metrology with Application-Specific Solutions

Precision Engineering

Keep the surface texture and geometric dimensions of precision-engineered parts within tight specification limits. Our gage-capable measurement systems provide efficient feedback and reporting as you monitor, track, and evaluate processes and assess GD&T conformance.

MEMS and Sensors

Perform high-throughput, highly repeatable etch depth, film thickness, step-height, and surface roughness measurements, as well as advanced critical dimension metrology of MEMS and optical MEMS. Optical profiling can characterize devices throughout the manufacturing process from wafer to final test, and even through transparent packaging.

Orthopedics/Ophthalmics

Obtain precise, repeatable measurements of implant materials and components through the complete product life cycle. Our WLI optical profilers support R&D, QA, and QC analyses, for applications ranging from characterization of surface parameters of lens and injection molds to surface finish verification and wear of medical devices.

Tribology

Measure, analyze, and control the impact of friction, wear, lubrication, and corrosion on material/component performance and lifespans. Determine quantitative wear parameters and perform fast pass/fail inspections on the widest range of shiny, smooth, or rough surfaces.

Semiconductors

Improve yield and reduce costs for both front- and back-end manufacturing processes with automated, non-contact, wafer-scale metrology systems. Perform post-CMP die flatness inspection; bump height, coplanarity, and defect identification and analysis; and measure the critical dimensions of component structures.

Optics

Better understand the root causes of defects and optimize polishing and finishing processes with accurate and repeatable sub-nm roughness measurements. Our non-contact metrology systems enable compliance with increasingly stringent specifications and ISO norms for samples ranging from small aspheric and free-form optics, to optical components with complex geometries, to diffraction gratings and microlenses.

White Light Interferometry

Accurate 3D optical metrology independent of surface characteristics

Universal Scanning Interferometry

Adaptive surface intelligence to capture simultaneous sub-nm surface texture and step heights

Elite Enhanced Imaging

Through-focus high fidelity imaging while maintaining high precision WLI metrology

3D光学プロファイラーウェビナーを見る

当社の Webinar は、ベスト プラクティスをカバーし、新製品を導入し、難しい質問に対する迅速なソリューションを提供し、新しいアプリケーション、モード、またはテクニックのアイデアを提供します。

エルサレムのヘブライ大学でナノ加工のためのユニットは、学生の数百人のために使用されるサービスラボです.私たちがここに持っている機器の各部分は、堅牢でユーザーフレンドリーで効率的で、優れた技術サポートを備えるように厳選されました。光学プロファイラーブルカーコンターGTは、これらのすべての必要条件を明白に満たします:私たちの学生は単にそれを使用するのが大好きです。テクニカルサポートに関しては、ブルーカーは機器のメーカーであるだけでなく、彼らは私たちのパートナーです。

シモン・エリアフ博士、エルサレムヘブライ大学、ContourGTオーナー

WLIプロファイラの高品質な地形により、機械加工されたテクニカルセラミック部品の加工工程で残された微妙な粒の除去と規則的なパターンを明らかにすることができます。CNCマシンが残したわずかな偏差や小さな欠陥を発見して、根本原因をよりよく理解し、適切な修正を行ったり、製造プロセスを最適化することができます。

ファビアン・コロニエ、品質開発エンジニア、マイクロサーテック、ContourGTオーナー

Contour Elite K干渉計を使用すると、他の技術と比較して、マイクロミルドサーフェスの正確な粗さ測定を非常に短時間で行うのが非常に簡単です。

ジャコモ・ディドーニ博士、イタリア、ポリテクニコ・ディ・ミラノ

お 問い合わせ

Input value is invalid.

※必須フィールドにご記入ください。

名を入力してください
姓を入力してください
電子メール アドレスを入力してください
会社/教育機関を入力してください
お客様の現在の状況に最も近いものをお選びください
お得なキャンペーン・イベント・製品情報等をご案内するブルカーからの「メルマガ登録」をご希望の方はチェックをお願いします。
利用規約に同意してください