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30年にわたるWyko® 白色干渉計 (WLI) ハードウェアおよびソフトウェア技術の革新を基盤とするContour Eliteシステムは、特許技術のチップ/チルト光学ヘッド、高忠実度イメージング機能、特許出願中の照明設計、データの処理および解析、視覚化に対応する独自のソフトウェアアルゴリズムを備えています。大きな視野と0.5X~230Xの対物レンズ倍率が、きわめて幅広い表面形状および構造の特性分析を可能にします。各システムが、業界をリードするVision®ソフトウェアを標準装備しています。また、R&D 100アワードを受賞したオプションのAcuityXR®測定技術を使えば、回折限界を打ち破るシステムが実現します。

Contour Elite顕微鏡では、自動の150 ミリメートル (6インチ) ステージまたは300ミリメートル (12インチ) ステージを使用できます。円筒形のサンプル用に、ローラーステージのオプションも提供しています。このステージを使えば、部品を回転させて表面データを取得できます。

Contour GT-I Tip-Tilt
従来のピッチ/ロールステージ設計では、動きの5つの軸をオペレーターが調節し、測定ポイントを測定視線上に保つ必要がある。ブルカー独自のヘッドのチップ/チルト機能により、測定ポイントが視線上に維持される。

Optical Analysis、SureVision、自動MATLABスクリプティングなどのオプションのソフトウェアパッケージでは、そのほかのカスタマイズにも対応し、各種機能が提供されています。どのようなアプリケーションでも、Contour Eliteなら、最適な表面測定ソリューションが手に入ります。

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アプリケーションと予算に応じた幅広いモデル

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Contour Elite x Tech Detail 369x871